梅特勒电子分析天平常见问题解答
在使用电子分析天平的时候旺旺会出现各种问题,今天小编为您总结了一下适用梅特勒AE系列电子天平常见问题及其处理方法:
开启问题: 开启后完全无显示
(1)电源插座没有220v电压接通交流电源AEG电子天平工作电压允许范围184v-265v
(3)熔断丝烧毁更换熔断丝,如果再次烧毁,必须送维修。这为专用的浪涌熳熔熔断丝。请向我公司购买。
开启问题: 显示器上出现“OFF-2”
(2)电源插头松动过,后又重新插好
开启问题: 显示器上出现“000000”闪动
(2)电子天平开启时,称盘上置有物件移走称盘上的物件后,再重新开启电子天平,开启后,再移走物件
(1)电子天平放置的环境太差,防风窗没有关闭 将电子天平放置到振动小,气流小的环境中将所有称量室的防风窗关闭
开启问题: 开启后,出现“NO CAL”
请按下列步骤进行一次准
校准电子天平
关显示
0.0000 no CAL
(2)瞬时干扰影响
(1)磁传感器处于未达到热平衡状态
校准问题: 校准过程中,显示器上只出现“……”(中间)
改善电子天平的放置环境,关闭所有防风窗
(1)调入校准功能前,内校砝码已置在移盘上
校准问题: 校准过程中出现CAL 100闪动
内校时,标校准推杆推到后部,将内校砝码加载到称盘上。外较时,将外部砝码加载到称盘上
(1)校准结束后,未卸去称盘上的砝码
·校准过程中,出现CAL Err
1、校准前,留有物体在称盘上
2、采用了错误的外校砝码
3、电子天平放置的环境太差
使用问题: 空载时,0点不稳定,上、下双方向漂移
环境因素包括:振动、气流、温度、外部磁场必须改善上述环境,关闭称量室的防风窗,电子天平才能正常工作。
电子天平右侧下部的校准推杆只有二个正确位置,zui前部或zui后部。如果推杆未置于这两个位置的任何地方,则引起砝码位置不正确,而0点不稳将推杆位至zui前端后再开启电子天平。
改变电子天平参数位置为出厂时设置,积分时间和稳定性监测器灵敏度均为2。
1、电子天平放置的环境太差
2、电子天平参数不正确
3、称量室内留有手的体温
4、被称量物体的温度未与电子天平达到等温
5、样品存在吸水性,放水性,静电,磁性等特性
使用问题: 称量结果明显不准
先去回皮0后,再称量
称量前,先执行正确校准,再称量
采取措施,稳定电源电压
1、电子天平工作台面上垫有一层防震橡皮
2、电子天平工作台不够稳固
使用问题: 未达到zui大称量时,出现“---”(上半部)*重标法
对于双量程的AE240,将量程重新放置到200g一级。
将右侧下部的校准推杆拉至前端,重新开启电子天平再校准后使用
移走物件如容器后,关闭电子天平后再开启
1、稳定性监测器灵敏度己设置在“OFF”
使用问题: 称量室内该不该放置干燥剂
应该将称量室内的干燥剂移走保持稳定的称量环境
1、空大,称量不稳定
2、四角误差偏大
注:任何天平在称量时zui好都不要*过它的量程,不然影响使用寿命。
1、开启问题_开启后完全无显示: (1)电源插座上没有220V电流接通交流电座; (2)交流适配器出错,选择适合我国工作的220V~交流适配器(外接变压器);AB-S/A8-1.4v~50/60HZ6VA;PB-S/A9.5-20VDC6W;AB/PB/GB9.5-14.5V50/60HZ1.5VA;(以奥豪斯为例,梅特勒为辅,国产天平为主) (3)交流适配器烧毁,更换交流适配器; 2、 2016-03-09
红外光谱分析在科研、生产中是一种重要的分析手段。样品制备是红外光谱分析的重要环节。为了得到一张高质量的红外光谱图, 除了仪器性能外, 很大程度上取决于选择合适的样品制备方法以及熟练的操作技术。本文就红外光谱样品制备中常出现的问题进行分析, 供广大红外光谱工作者参考。 一般来说, 样品制备应注意以下几点: (1) 样品浓度和测试厚度要选择适当。过低浓度和过薄的样品会使某些峰消 2016-03-05
卡氏水份仪常见问题解答 阳极电解液颜色不呈亮黄色,而是介于棕色和暗黄色之间颜色过深,是电极对电解液的响应能力降低。可以用纸巾清洁双铂针电极去除表面的吸附物;检查测量电极是否正常连接;测量电极可能发生故障。 仪器参考 哈希8362sc 高纯水用在线pH分析仪OAKTON pH尖头电极OAKTON防水pHTestr BNC 10pH11便携套装酸度计经济型1/4 DIN pH/ORP控制器 2016-03-07
试验结果的重现性不好?样品量太少,试样中的水份含量低。可以增大样品量,保证每次进样试样中含有1mg~2mg的JD水份。样品的水份分布不均匀,导致采样的误差也会体现在ZZ结果中,可以加强搅拌时间,增大样品量,或者对样品进行必要的预处理,如粉碎、溶解等。此外,样品预处理和添加方式中的不恰当处置对结果的重复性的影响严重,尤其是低水份含量的样品。 仪器参考 AP-2000全自动GPC化系统J2 Prep 2016-03-07
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