一、薄膜材料高低温试验机技术参数
型号 | BS-80D | BS-150D | BS-225D | BS-408D | BS-608D | BS-800D | BS-010D |
内箱尺寸W*H*D(mm) | 400*500*500 | 500*600*500 | 500*750*600 | 600*850*800 | 800*950*800 | 1000*1000*800 | 1000*1000*1000 |
外箱尺寸W*H*D(mm) | 600*1650*1100 | 700*1700*1200 | 700*1850*1300 | 800*1950*1500 | 1000*2050*1500 | 1200*2100*1500 | 1000*1000*1000 |
温度范围 | -70-+100℃(150℃) (A10℃ B0℃ C-20℃ D-40℃ E-50℃ F-60℃ G-70℃) |
温度解析度/均匀度 | 0.01℃ ±1℃ |
温度控制精度/波动度 | ±1℃ ±0.5℃ |
升温/降温时间 | 约3℃/min 约1℃/min (其他条件可定制) |
电源 | AC220V+±10%V 50HZ/60HZ AC380V+±10%V 50HZ/60HZ |
二、薄膜材料高低温试验机控制功能:
试验目的:考核产品承受一定温度变化速率的能力及对极端高温和极端低温环境的承受能力,是针对产品热机械性能设置的。当构成产品各部件的材料热匹配较差,或部件内应力较大时,温度循环试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效。如漏气、内引线断裂、芯片裂纹等。
试验条件:在气体环境下进行。主要是控制产品处于高温和低温时的温度和时间及高低温状态转换的速率。高低温试验箱内气体的流通情况、温度传感器的位置、夹具的热容量都是保证试验条件的重要因素。
其控制原则是试验所要求的温度、时间和转换速率都是指被试产品,不是试验的局部环境。微电路的转换时间要求不大于1min在高温或低温状态下的保持时间要求不小于10min;低温为-55℃或-65-10℃,高温从85+10℃到300+10℃不等。
三、高低温试验箱满足标准:
1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温
2. GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
3. GJB150.3A-2009 高温试验方法
4. GJB150.4A-2009 低温试验方法
5. GB2423.22-2008电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Nb:规定温度变化速率的温度变化
6. GBT 2424.5-2006 电工电子产品环境试验 温度试验箱性能确认
7.GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件