美国安捷伦探头116 日本IDEX测试线AP-01 AE.MIC测试线AEA-01
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美国安捷伦探头116 日本IDEX测试线AP-01 AE.MIC测试线AEA-01
描述
Agilent 116微型无源探头是一款小型、坚固的通用探头,可与InfiniiVision 7000、Infiniium 8000系列和54830系列示波器一起使用。它完全兼容安捷伦自动探头接口,完全能够与Infiniium示波器相匹配。
美国安捷伦探头116 日本IDEX测试线AP-01 AE.MIC测试线AEA-01
Z快0.5ms,覆盖100kHz~300MHz的低频● 测量频率1MHz~300MHz
● 测量时间:Z快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。阻抗分析仪IM7580s:等效电路分析功能能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且,可以通过模拟功能,使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外,使用比较器功能,还能够确定测量结果是否在判定区域内。给我一个机会,还你一个惊喜。
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因为有您,我们才能走得更远!!!!!!广州日横电子科技有限公司长期现货供应日本日置HIOKI IM7581阻抗分析仪,谢 :阻抗分析仪IM7580系列:使用SMD治具IM9201进行LCR测量IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用,能够简单准确的测量样品。阻抗分析仪IM7580系列:区域判定功能分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围,并以IN/NG来显示判定结果。阻抗分析仪IM7580系列:峰值判定功能分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围,并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。阻抗分析仪IM7580系列:SPOT判定功能分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
美国安捷伦探头116 日本IDEX测试线AP-01 AE.MIC测试线AEA-01
“SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数,Z多进行16点的判定。阻抗分析仪IM7580系列:比较器功能使用比较器功能,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
适用于判定样品是否合格的功能。阻抗分析仪IM7580系列:接触检查功能使用接触检查功能,能够检查样品和测量端口的接触状态,并确认接触不良情况和连接状态。阻抗分析仪IM7580系列:测试头的连接方法测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母(0.56 N・m)。
请注意不要拧过头。
升级・软件
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美国安捷伦探头116 日本IDEX测试线AP-01 AE.MIC测试线AEA-01
Z快0.5ms,覆盖100kHz~300MHz的低频● 测量频率1MHz~300MHz
● 测量时间:Z快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。阻抗分析仪IM7580s:等效电路分析功能能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且,可以通过模拟功能,使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外,使用比较器功能,还能够确定测量结果是否在判定区域内。阻抗分析仪IM7580系列:使用SMD治具IM9201进行LCR测量IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用,能够简单准确的测量样品。阻抗分析仪IM7580系列:区域判定功能分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围,并以IN/NG来显示判定结果。阻抗分析仪IM7580系列:峰值判定功能分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围,并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。阻抗分析仪IM7580系列:SPOT判定功能分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数,Z多进行16点的判定。现货特价清仓:
日本横河:温控器
日本ADEX:测试线AP-01(AX-114N专用)。日本AEMIC:测试线AEA-01等。
日本日置:测试线L2101,9451,9140,温度线Z2001,电池测试仪测试线等。
日本优利特:U-508皮带张力计,日本QL:TM-801高斯计。
美国福禄克:示波表F199C,F190-102,F190-104,F190-204/S,F190-204,F190-202,校准器F725,F726,F754,F718,F700PD3,电能质量分析仪F435,红外热像仪TI29,TI32,TIX520,TIX562,数据采集器F8846A等。
美国安捷伦(是德科技):数据采集器34970A,34972A,34901A,频率计53220A,E4418B,函数信号发生器33220A,33250A,万用表34401A,34411A,34461A,34410A,示波器DSOX2002A,探头1146A,N2890A,N2873A,1132A直流电源E3631A等。
美国泰克:示波器
美国MEGGER:电阻测试仪MIT515 5KV等。
台湾固纬:GDS3502示波器,电源PSW30-36,GPD-4303S等。