TM-801 日本QLKANETEC TM-801高斯计_详细资料

产品信息

日本QLKANETEC TM-801高斯计
日本QLKANETEC TM-801高斯计(磁通密度计) 行业标准仪器的TM-801高斯计 Z适宜用来管理磁通密度!TM-801高斯计的水平提升点（与TM-701 对比）行业标准仪器的TM 801
特点
测量范围大大增加
·在直流磁通密度测量中，提高了高分辨能力模式的精度
·扩大了交流磁通密度测量的频率应对领域（40～500Hz）
Z大可连续使用160 小时和高速采样
·高速化，HOLD 模式采样速度提高了1.5 倍
·干电池的连续使用时间提高了20%（130 小时→160小时）
·应对干电池、AC 适配器、USB 供电的3 种电源
通过电脑的操作比前更简单、方便。
·通过USB 连接，就能把测量数据以数字输出到电脑
·通过USB 连接，就能从电脑进行测量命令控制
·完全更新了电脑用免费样本软件
用途例子
●工件机械加工后残留磁力的测量
●冲压成形品残留磁力的测量
●使用退磁机后的残留磁力的测量
●磁铁工具磁通密度的测量
●检查和研发交流磁力应用产品等
●确认磁铁材料磁化水平
●卫生磁铁磁通密度的管理
●工件机械加工后残留磁力的测量
功能：归零，判定极性，保留Z大测量值，自动关机(可取消)
显示：LCD
模式：极性，字母(N/S)
操作温度：0~40℃(104℉)
电源：电池SUM-3(1.5V) 4
节外形尺寸：高140mm(5.51)×宽64mm(2.51)×厚30mm(1.18)
重量：约250g/0.54lb(含电池和探头)
配件：探头,电池,携带包
可选配件：数字输出线(TM-601DTC) 轴向探头(TM-801AXL)，标准磁场TM-SMF
技术参数

检测对象直流磁场磁通测量交流磁场磁通测量（40-500Hz)
单位 mt
指示范围 0-3000mt
测量范围测试模式测量范围 Z小读数显示精度
DC×1* 0-200.0mT 0.1 mT ±(5%读数+3位)
200.1-3000 mT 1 mT ±(5%读数+10位)
DC×10 0-300.00 mT 0.01 mT ±(3%读数+5位)
AC* 0-150.00mT 0.01 mT ±(5%读数+20位)
150.1-300.0 mT 0.1 mT
300 -1500 mT 1 mT

这是TM-801专用的测量探头。不需要烦琐的调整就能进行交换，因此可当作备件使用。除了标准附件的PRB（无线电收发两用机型）外，任选件还备有可在垂直方向进行测量、耐用性优越的AXL（轴型）。

可用于泰斯拉测量仪的校正和日常的检测
泰斯拉测量仪的日常检测
●由于可获得标准磁场的校正证明，这样可经济地校正泰斯拉测量仪。属闭电路结构，采用了磁力泄漏较少的*磁石。
●小型，重量轻。
●本公司TM-201 以后的均可使用

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检测对象	直流磁场磁通测量交流磁场磁通测量（40-500Hz)
单位	mt
指示范围	0-3000mt
测量范围	测试模式	测量范围	Z小读数	显示精度
	DC×1*	0-200.0mT	0.1 mT	±(5%读数+3位)
	DC×1*	200.1-3000 mT	1 mT	±(5%读数+10位)
	DC×10	0-300.00 mT	0.01 mT	±(3%读数+5位)
	AC*	0-150.00mT	0.01 mT	±(5%读数+20位)
		150.1-300.0 mT	0.1 mT
		300 -1500 mT	1 mT