x射线荧光镀层测厚仪

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求,φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求,高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm,采用高度定位激光，可自动定位测试高度,定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点,高分辨率探头使分析结果更加JZ,良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护.

x射线荧光镀层测厚仪可以检测镀金层、镀镍层、镀锌层、镀铬层、镀银层、镀铜层、镀锡层的厚度。检测速度快随着科学技术的日益进步，特别是计算机技术的快速突破，x射线荧光镀层测厚仪也同时向着微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向发展。x射线测厚仪的测量分辨率已达到纳米级，精度更是有了大幅度的提高，且具有适用范围广泛，量程宽、操作简便且界面友好等特点.

x射线荧光镀层测厚仪技术指标

型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析检出限可达2ppm，Z薄可测试0.005μm。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。