激光粒度分析仪_详细资料

产品信息 适用范围 FDQ-0301激光颗粒分布测量仪是以物理学上富朗和菲衍射（Fraunhofer diffraction）和米氏散射( Mie scattering )为理论基础。此理论可以简单理解为：沿直线传播的平行激光束，在传播过程中遇到颗粒的遮挡后，发生了衍射和散射现象，并且大颗粒光散射角小，小颗粒光散射角大。见图1-1为单个颗粒形成的衍射图案，颗粒直径越大，ZX亮环越小，颗粒直径越小，ZX亮环越大。使用光电探测阵列在不同角度上接收光能，对于相应的角度，其光能是对应直径的颗粒集合发生衍射（散射）造成的，相应其它角度上光能的强弱也就反应了对应直径颗粒在整个颗粒集合中占有的比例，根据在不同角度上接收的散射光强弱，就可以反演出样品的颗粒分布及各粒级间相对含量。 功能特点 1.多达82个采样通道，提高了测试结果的分辨率；全部光电器件制作在同一个硅片上，保证了光电阵列的使用寿命；交叉扇形排列方式，加大了受光面积，提高了灵敏度； 2.微量进样方式，采用蠕动泵的全自动循环进样方式，采用虹吸泵自动循环进样方式，满足不同客户的测试需求,仪器标配MS-01微量进样装置； 3.全量程单镜头测量，所有的光学组件都固定在加固的基座上，光学系统出厂前紧固好，使仪器性能更加稳定； 4.采用进口半导体激光器，具有使用寿命长，光学参数稳定，不怕振动等一系列优点，连续工作时间长达24个小时，满足用户连续大负荷测试的要求。 技术参数 1、测试范围（um）：0.15-400 ；（0.4-1100、0.1-450、0.25-650 、0.4-1100） 2、重复性：<1%，再现性：<2%，系统误差：<2%； 3、激光发生器：半导体激光器 λ=650nm,功率>3mw； 4、光学系统：平行光束； 5、软件运行环境：Windows95/98/xpista； 6、计算机接口：USB2.0； 7、电源电压：85-264V/50HZ/60HZ； 8、测试原理：激光散射； 9、采样通道：82。 适用领域 各种非金属粉：如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土等； 各种金属粉：如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等； 其他粉体：如催化剂、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、荧光粉、河流泥沙、陶瓷原料、化工原料、各种乳浊液等。

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