9J,9J-V,6JA 上海光学-光切法显微镜9J系列/干涉显微镜6JA系列

是否提供加工定制	是	类型	光学显微镜
品Pai	上光	型号	9J,9J-V,6JA
仪器放大倍数	60X/120X/260X/510X	目镜放大倍数	10X
物镜放大倍数	6X/12X/26X/51X	重量	23K（g）
适用范围	测量零件表面的加工光洁度	装箱数	1

光切法显微镜9J数码摄影光切法显微镜9J-V用途：本仪器是以光切法测量零件加工表面的微观不平度。对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。光切法特点是在不破坏表面的状况下进行的。是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。本仪器配上数码相机即升级为数码摄影光切法显微镜。规格：不平深度测量范围:0.8～80μm（▽3～▽9）不平宽度用测微目镜 0.7μm～2.5mm用坐标工作台 0.01～13mm总放大倍数60×/120×/260×/510×仪器重量约23kg外形尺寸约180×290×470mm干涉显微镜6JA用途本仪器是用于测量工件表面光洁度，刻线或镀层的深度。配以各种附件，还能测量粒状，纹路混乱和低反射率的工件表面，同时还能将仪器安置在工件上，对大型工件表面进行测量。规格不平深度测量范围:0.03-1μm（▽10～▽14）工作物镜的数值孔径0.65工作距离0.5mm仪器的视场 目视　Φ0.25mm照相0.21×0.15mm仪器的放大倍数 目视500× 照相168×测微鼓分划值0.01mm