HKD-MX4R-半导体LCD检测金相显微镜
半导体LCD检测金相显微镜采用全新CSIS光路设计,无限远色差校正光学系统,像质更好,分辨率更高,采用长寿命LED光源,提供出色的图像质量,多种高度功能化的附件,能满足各种检验需要,可用于明场、简易偏光,微分干涉观察;是新型FPD检查显微镜,专为LCD行业TFT导电粒子压痕, OGS压痕、导电粒子、ITO检测和工程分析设计。
性能特点
1、安全、稳重的机架结构设计
工业检测级显微镜镜体,低ZX、高刚性、高稳定性金属机架,
保证了系统的抗震能力与成像稳定性。其前置低手位粗微调同轴调焦机构,内置100-240V宽电压变压器,可适应不同地区的电网电压。底座内部设计有风循环散热系统,长时间使用也不会使机架过热。
2、反射照明器
单颗大功率5W白色LED照明,带斜照明机构。切换至斜照明时,可以使物体表面不同材质部分
呈现立体图案,增加观察的对比度与视觉效果。
3、高性能物镜转换器
转换器采用精密轴承设计,转动手感轻巧舒适,重复定位精度高,物镜转换后的同心度也得到较好的控制,根据需求可配置不同孔位的转换器。
4、转轴式三目,瞳距调节范围50-75mm,目视与CCD相机可同步观察
5、内倾式五孔转换器避免呼吸热
气对物镜的影响,使用者拥有更
大的操作空间
6、专用的搬运把手设计
7、LMPL无限远长工作距金相物镜
5X、10X、20X、50X(选配)
8、全新研发的U-DICR 微分干涉组件,
可以将明场观察下无法检测的细微高低差
转化为高对比度的明暗差并以
立体浮雕形式表现出来,
如LCD 导电粒子,精密磁盘表面划痕等。