招商洪江植物冠层图像分析仪 TOP-1000植物冠层分析仪的具体说明

YH-MC-S01A植物冠层图像分析仪产品简介植物冠层图像分析仪用于各种高度植物冠层的研究，利用鱼眼镜头和CCD图像传感器获取植物冠层图像，通过专用分析软件，获得植物冠层的相关指标和参数。利用鱼眼镜头成像测量植物冠层数据，只操作一次即可，简化了传统测量方法要一天定点多次测量的繁复工作，而且利用图像法测量冠层可以主动避开不符合计算该冠层结构参数的冠层空隙部分，也可以躲开不符合测量计算的障碍物。测量参数叶面积指数叶片平均倾角散射辐射透过率不同太阳高度角下的直射辐射透过率不同太阳高度角下的消光系数叶面积密度的方位分布用途与适用范围可测算植物冠层的太阳直射光透过率、天空散射光透过率、冠层的消光系数，叶面积指数和叶片平均倾角等，可用于农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析可用于不同植物群体结构的比较；可对农田作物群体生长过程进行动态监测适用于生态学野外植物群体动态监测的研究与教学；也适用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、植物群体对比与发展的研究与教学。原理与方法植物冠层图象分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下，植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中Z精确和Z省力、省时、快捷方便的方法。结构特点专门为植物冠层结构测量设计的小型鱼眼摄像镜头安装在万向平衡接头上，可自动保持镜头处于水平状态镜头安装在测杆一端，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到茂密的冠层中，测杆一端的通迅线可联接在计算机上，方便取图操作由于小巧和带有测杆，可伸入冠层不同高度处，快速地进行分层测量，测出群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图，测杆上附带有线性ＰＡＲ探头，同时可测量冠层内外的光量子通量密度(μmol/㎡•S)值，该值可以做为冠层内能量分析的参考值功能特点非破坏性地测定冠层结构可以测量冠层内外的光合有效辐射(PAR)手持式万向接头自动水平调整探头，无需三角架随身携带的笔记本计算机可以帮助你正确选点取样，即时决定图像的取舍由外接锂电池组提供电源便于观测和长时间测量，尤其适合完成野外繁重的观测任务图像分析软件可以任意定义图像分析区域(天顶角可分10区，方位角可分10区)。对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠层部分(如缺株、边行问题等)。对不同天顶角起始角和终止角的选择，可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件，通过手动调节阈值，可以更JZ的测量出叶面积指数等参数镜头角度：150°(或用户自选180°镜头。除用户有特殊需要，180°鱼眼镜头经常不适合孔隙测量原理与方法所假设的前提条件，用于冠层结构分析是不适宜和不经济的)分辨率：768×494pix测量范围：天顶角由0°～75°PAR感应范围：感应光谱400nm～700nm测量范围0～2000μmol/㎡•S分析软件：植物冠层分析系统显示和内存：决定于笔记本电脑的选择。电源：锂电池组传输接口：USB工作温度：0～55℃
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$n测量参数叶面积指数叶片平均倾角散射辐射透过率不同太阳高度角下的直射辐射透过率不同太阳高度角下的消光系数叶面积密度的方位分布用途与适用范围可测算植物冠层的太阳直射光透过率、天空散射光透过率、冠层的消光系数，叶面积指数和叶片平均倾角等，可用于农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析可用于不同植物群体结构的比较；可对农田作物群体生长过程进行动态监测适用于生态学野外植物群体动态监测的研究与教学；也适用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、 植物群体对比与发展的研究与教学 。原理与方法植物冠层图象分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下， 植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中Z精确和Z省力、省时、快捷方便的方法。结构特点专门为植物冠层结构测量设计的小型鱼眼摄像镜头安装在万向平衡接头上，可自动保持镜头处于水平状态镜头安装在测杆一端，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到茂密的冠层中，测杆一端的通迅线可联接在计算机上，方便取图操作由于小巧和带有测杆，可伸入冠层不同高度处，快速地进行分层测量，测出群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图，测杆上附带有线性ＰＡＲ探头，同时可测量冠层内外的光量子通量密度(μmol/㎡•S)值，该值可以做为冠层内能量分析的参考值功能特点非破坏性地测定冠层结构可以测量冠层内外的光合有效辐射(PAR)手持式万向接头自动水平调整探头，无需三角架随身携带的笔记本计算机可以帮助你正确选点取样，即时决定图像的取舍由外接锂电池组提供电源便于观测和长时间测量，尤其适合完成野外繁重的观测任务图像分析软件可以任意定义图像分析区域(天顶角可分10区，方位角可分10区)。对 不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠层部分(如缺株、边行问题等)。对不同天顶角起始角和终止角的选择，可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件，通过手动调节阈值，可以更JZ的测量出叶面积指数等参数镜头角度：150°(或用户自选180°镜头。除用户有特殊需要，180°鱼眼镜头经常不适合孔隙测量原理与方法所假设的前提条件，用于冠层结构分析是不适宜和不经济的)分辨率：768×494pix测量范围：天顶角由0°～75°PAR感应范围：感应光谱400nm～ 700nm测量范围0～2000μmol/㎡•S分析软件：植物冠层分析系统显示和内存：决定于笔记本电脑的选择。电 源：锂电池组传输接口：USB工作温度：0～55℃
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$n 植物冠层分析仪SPL-2000
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n$n主机简介$n广泛适用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、 植物群体对比与发展的研究与教学中农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析。能测算植物冠层的太阳直射光透过率、天空散射光透过率、冠层的消光系数，叶面积指数(LAI)和叶片平均倾角(MTA)等。
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n$n植物冠层分析仪型号：SPL-2000$n原理和方法$n采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法。$n功能特点$n1.非破坏性地测定冠层结构$n2.可以测量冠层内外的光合有效辐射（PAR）$n3.手持式万向接头自动水平调整探头，$n4.随身携带的笔记本计算机可以帮助你正确选点取样，即时决定图像的取舍$n5.由计算机电池提供电源极其轻便、便于观测，尤其适合完成野外繁重的观测任务$n6. 图像分析软件可以任意定义图像分析区域（天顶角可分10区，方位角可分10区）。对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠层部分（如缺株、边行问题等）。对不同天顶角起始角和终止角的选择，可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件 $n7.通过USB接口直接将测点图像显示在计算机上，可以在野外即时观察图像，选择合理的测点，将图像存贮。$n8.半球图象上可以设计任何地点、任何时间的太阳视运动轨迹，以及冠层内任意时刻的受光状况。$n技术参数$n1.镜头角度：150°$n2.分辨率：768×494pix$n3.测量范围：天顶角由0°～75°（150°鱼眼镜头）可分割成十个区域，方位角360°亦可分割成十个区域。$n4．PAR感应范围：感应光谱400～700nm。 测量范围0～2700μmol/m2•s$n5.分析软件：专业ECA-GC02软件。$n6.显示和内存：7英寸笔记本，128内存以上。$n7.电 池：电脑电池。$n8.传输接口：USB$n9.工作温度：0～55℃$n10.重量：1.5kg$n
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n仪器名称：植物冠层图像分析仪仪器型号：TOP-1300仪器简介：植物冠层图像分析仪采用国际上一致采用的原理（比尔定律以及冠层孔隙率与冠层结构相关的原理），通过专用鱼眼镜头成像和CCD图像传感器测量冠层数据和获取植物冠层图像，利用软件对所得图像和数据进行分析计算，得出冠层相关指标和参数。具有精确、省时省力、快捷方便的特点。可测量：叶面积指数、叶片平均倾角、散射辐射透过率、不同太阳高度角下的直射辐射透过率、不同太阳高度角下的消光系数、叶面积密度的方位分布、冠层内外的光合有效辐射(PAR)等。广泛应用于作物、植物群体冠层受光状况的测量分析以及农林业科研工作。功能特点：无损测量叶面积指数、叶片平均倾角以及冠层结构探头体积小巧，装在测杠上可任意角度测量植物冠层结构。摄像头可自动保持水平。USB接口，测量时连接电脑实时查看图像，即时选取所需图像并保存。外接大容量锂电池，适用于野外工作和长时间测量。测量冠层不同高度，可得到群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图。配有专用分析软件，有选择所需图像区域的功能(天顶角可分10区，方位角可分10区)，可屏蔽不合理的冠层部分，仅对有效图像区域进行分析，使测量数据更加精确。技术参数：镜头角度：150°(特殊需求可自选180°镜头)分辨率：768×494pix测量范围：天顶角由0°～75°（可分割成十个区域）；方位角360°（可分割成十个区域）PAR感应范围：感应光谱400nm～ 700nm测量范围0～2000μmol/㎡•S电 源：7.4V锂电池组传输接口：USB工作温度：0～55℃
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nHR-4型灰熔点测定仪控制器与硅碳管高温炉配套，是化验室进行煤灰熔融性测定的智能化仪器。该仪器严格按照国标有关规定全自动完成灰熔点测定的升温过程，试样的观察和特征温度的记录仍需人工进行。也可以在一定范围内对控制参数进行选择和修改，还具备可以自行设定的定时恒温程序。本仪器带有标准的RS232通讯接口，以备扩展和通讯。 技术特性： 控制方式：以单片机为核心，自动测量并校正温度和电流，自动移相触发可控硅闭环控制加热电流。 测温范围：0~1600℃，分辨率1℃，配用S分度值热电偶。 时间范围：0~999min，分辨率1min(小于10min时为1s) 升温速度： 900℃以前，15~20℃/min(可以选择) 900℃以后，5±1℃/min(可以选择) 测温误差：±3℃ 定时误差：小于1s/h 电源：AC220V±10％ 50Hz 输出电流：30A 使用环境：温度0~40℃，相对湿度不大于80％。
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