BEST-121高阻测定仪体积表面电阻率测试仪符合标准： GB1410《固体电工绝缘材料绝缘电阻、体积电阻系数和表面电阻试验方法》 ASTM D257《绝缘材料的直流电阻或电导试验方法》一、概述本仪器既可测量高电阻，又可测微电流。采用了美国Intel公司的大规模集成电路,使仪器体积小、重量轻、准确度高。以双3.1/2位数字直接显示电阻的高阻计和电流。量限从1×104Ω～1×1018 Ω，是目前国内测量范围Z宽，准确度的数字超高阻测量仪。电流测量范围为2×10-4～1×10-16Ａ。机内测试电压为10/50/100/250/500/1000V任意可调。本仪器具有精度高、显示迅速、性好稳定、读数方便，适用于防静电产品如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。本仪器除能测电阻外，还能直接测量微弱电流。二、主要特点电阻测量范围宽 0.01×104Ω～1×1018 Ω电流测量范围为2×10-4Ａ～1×10-16Ａ体积小、重量轻、准确度高电阻、电流双显示性能好稳定、读数方便所有测试电压（10/50/100/250/500/1000V）测试时电阻结果直读，免去老式高阻计在不同测试电压下或不同量程时要乘以系数等使用不便的麻烦，使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便。既能测超高电阻又能测微电流三、技术指标1、电阻测量范围：0.01×104Ω～1×1018Ω。2、电流测量范围为：2×10-4A～1×10-16A3、双表头显示： 3.1/2位LED显示4、内置测试电压：10V、50V、100V、250、500、1000V5、基本准确度：1%（*注）6、使用环境：温度：0℃～40℃，相对湿度<80%7、机内测试电压：10/50/100/250/500/1000V任意切换8、供电形式：AC 220V，50HZ，功耗约5W9、仪器尺寸：285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm10、质量：约2.5KG四、工作原理根据欧姆定律，被测电阻Rx等于施加电压V除以通过的电流I。传统的高阻计的工作原理是测量电压V固定，通过测量流过取样电阻的电流I来得到电阻值。从欧姆定律可以看出，由于电流I是与电阻成反比，而不是成正比，所以电阻的显示值是非线性的，即电阻无穷大时，电流为零，即表头的零位处是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时，其电压V也会有些变化，所以普通的高阻计是精度差、分辨率低。本仪器是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I，通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算，然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值，即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化，其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流Ｉ的变化而变，所以，即使测量电压、被测量电阻、电源电压等发生变化对其结果影响不大，其测量精度很高（专利），从理论上讲其误差可以做到零，而实际误差可以做到千分之几或万分之几。典型应用1．测量防静电鞋、导电鞋的电阻值2、测量防静电材料的电阻及电阻率3、测量计算机房用活动地板的系统电阻值4、测量绝缘材料电阻（率）5、光电二极管暗电流测量6、物理,光学和材料研究标准配置：1、测试仪器：1台2、.电源线：1条3、测量线：3根（线、测试接线、接地线）4、使用说明书：1份其它可选配件：本仪器配不同的测量电极（夹具）可以测量不同材料（固体、粉体或液体）的体积电阻率和表面电阻率或电导率，完全符合或优于国家标准GB1410－2006固体电工绝缘材料绝缘电阻、体积电阻系数和表面电阻试验方法，ASTM D257绝缘材料的直流电阻或电导试验方法 等标准要求
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n· 技术参数· 型 号 SB36固体（液体）体积电阻率及表面电阻率测试仪· 额定电压 10 100 250 500 1000 准确度 &plun;5 %· 电阻测量 1* 106～1* 1017准确度 &plun;10 % &plun;20 %· 微电流测量 1* 105～1* 1014准确度 &plun;10 % &plun;20 %· 外形尺寸/重量（MM /KG） 380W * 260D * 150H / 10 主要用途及特点:· 适用于科研、工厂、学校、企业部门对绝缘材料、电工产品、电子设备以及元件的绝缘测量和高阻值兆欧电阻的测量也可用着微电流测量，是一种直读式和微电流两用仪器。测试电压（V）误 差DC—10V&plun;5%DC—50V&plun;5%DC—100V&plun;5%DC—500V&plun;5%DC—1000V&plun;5%测试电压（V）10V50V100V250V500V1000V档位倍率量限Ω误差量限Ω误差量限Ω误差量限Ω误差量限Ω误差量限Ω误差11021×106—2×107&plun;10%5×106—1×108&plun;10%1×107—2×108&plun;10%2.5×107—5×108&plun;10%5×107—1×109&plun;10%1×108—2×109&plun;10%21031×107—2×108&plun;10%5×107—1×109&plun;10%1×108—2×109&plun;10%2.5×108—5×109&plun;10%5×108—1×1010&plun;10%1×109—2×1010&plun;10%31041×108—2×109&plun;10%5×108—1×1010&plun;10%1×109—2×1010&plun;10%2.5×109—5×1010&plun;10%5×109—1×1011&plun;10%1×1010—2×1011&plun;10%41051×109—2×1010&plun;10%5×109—1×1011&plun;10%1×1010—2×1011&plun;10%2.5×1010—5×1011&plun;10%5×1010—1×1012&plun;10%1×1011—2×1012&plun;10%51061×1010—2×1011&plun;10%5×1010—1×1012&plun;10%1×1011—2×1012&plun;10%2.5×1011—5×1012&plun;10%5×1011—1×1013&plun;20%1×1012—2×1013&plun;20%61071×1011—2×1012&plun;10%5×1011—1×1013&plun;20%1×1012—2×1013&plun;20%2.5×1012—5×1013&plun;20%5×1012—1×1014&plun;20%1×1013—2×1014&plun;20%71081×1012—2×1013&plun;20%5×1012—1×1014&plun;20%1×1013—2×1014&plun;20%2.5×1013—5×1014&plun;20%5×1013—1×1015&plun;20%1×1014—2×1015&plun;20%81091×1013—2×1014&plun;20%5×1013—1×1015&plun;20%1×1014—2×1015&plun;20%2.5×1014—5×1015&plun;20%5×1014—1×1016&plun;20%1×1015—2×1016&plun;20% 液体电极（GB1672标准）图液体体积电阻系数计算公式如下：· (1) 体积电阻系数（Ω·m）Rv：体积电阻（Ω）S：测量电极有效面积(m2) 测量电极有效直径（米） 测量电极与环电极双边间距（米） 测量电极与高压电机底面间隙（即被测液体厚度）二、使用说明（一）SB36应满足下例要求：1、测试电压范围应包括：100V~500V2、SB36测量范围应包括：1×106Ω~1×1017Ω3、阻值大于1012Ω时，测量误差应小于&plun;20%，阻值不大于1012Ω时，测量误差应小于&plun;10%。4、输入接线的绝缘电阻应大于仪器输入电阻的100倍。5、测试时试样及测量导线应有良好。6、仪器应定期进行校验。（二）准备工作：1、取被测液体（如：增塑剂）试样50ml。2、试样应在温度23&plun;2℃，相对湿度65&plun;5%的条件下处理2小时以上。（三）测试步骤：1、测试温度23&plun;2℃，相对湿度65&plun;5%，无外界电磁场干扰环境中进行。2、测试时对试样所加电压为100V~500V的直流电压，选择电压档次。3、将试样倒入高压电极内，使液面刚好和环电极下缘全部接触为止。4、将充分放电后的试样和电极，按SB36型固体（液体）体积及表面电阻率测试仪要求接线。外电极（高压电极）接高固体（液体）体积及表面电阻率测试仪的高压输出端。内电极（测量电极）接固体（液体）体积及表面电阻率测试仪的测量端。中电极（环电极）接固体（液体）体积及表面电阻率测试仪的接地端。5、仪器预热30分钟，稳定后调整仪器（调零），加上试验1分钟，读取电阻指示值，然后放电1分钟，再测试一次，以二次的算术平均值作为试验样品电阻指示值。（四）计算方法：按式（1）计算体积电阻系数（pv）,计算结果取二位有效数字。（五）注意事项：1、测定电极必须放置在高绝缘的垫板上。2、测定电极在测试前后，均应做好清洗工作，特别是三只电极的支撑件不得受到试样的污染。*例 用SB36固体（液体）体积及表面电阻率测试仪测定高分子材料体积电阻率和表面电阻率高分子材料的电学性能是指在外加电场作用下材料所表现出来的介电性能、导电性能、电击穿性质以及与其他材料接触、摩擦时所引起的表面静电性质等。Z基本的是电导性能和介电性能，前者包括电导(电导率γ，电阻率ρ=1/γ)和电气强度(击穿强度Eb)；后者包括极化(介电常数εr)和介质损耗(损耗因数tgδ)。共四个基本参数。种类繁多的高分子材料的电学性能是丰富多彩的。就导电性而言，高分子材料可以是绝缘体、半导体和导体，如表1所示。多数聚合物材料具有的电绝缘性能，其电阻率高、介电损耗小，电击穿强度高，加之又具有良好的力学性能、耐化学腐蚀性及易成型加工性能，使它比其他绝缘材料具有更大实用价值，已成为电气工业不可或缺的材料。高分子绝缘材料必须具有足够的绝缘电阻。绝缘电阻决定于体积电阻与表面电阻。由于温度、湿度对体积电阻率和表面电阻率有很大影响，为满足工作条件下对绝缘电阻的要求，必须知道体积电阻率与表面电阻率随温度、湿度的变化。 表1 各种材料的电阻率范围材料电阻率(Ω·m)材料电阻率(Ω·m)超导体导体≤10-810-8～10-5半导体 绝缘体10-5～107107～1018除了控制材料的质量外，测量材料的体积电阻率还可用来考核材料的均匀性、检测影响材料电性能的微量杂质的存在。当有可以利用的相关数据时，绝缘电阻或电阻率的测量可以用来指示绝缘材料在其他方面的性能，例如介质击穿、损耗因数、含湿量、固化程度、老化等。表2为高分子材料的电学性能及其研究的意义。表2 高分子材料的电学性能及测量的意义电学性能电导性能①电导（电导率γ，电阻率ρ=1/γ）②电气强度（击穿强度Eb）介电性能③极化（介电常数εr）④介电损耗（损耗因数tanδ）测量的意义实际意义①电容器要求材料介电损耗小，介电常数大，电气强度高。②仪表的绝缘要求材料电阻率和电气强度高，介电损耗低。③高频电子材料要求高频、超高频绝缘。④塑料高频干燥、薄膜高频、大型制件的高频热处理要求材料介电损耗大。⑤纺织和化工为消除静电带来的灾害要求材料具适当导电性。理论意义研究聚合物结构和分子运动。1目的要求了解SB36固体（液体）体积及表面电阻率测试仪的使用方法和实验原理。测出高聚物样品的体积电阻率及表面电阻率，分析这些数据与聚合物分子结构的内在联系。2原理2.1名词术语1) 绝缘电阻：施加在与试样相接触的二电极之间的直流电压除以通过两电极的总电流所得的商。它取决于体积电阻和表面电阻。2) 体积电阻：在试样的相对两表面上放置的两电极间所加直流电压与流过两个电极之间的稳态电流之商；该电流不包括沿材料表面的电流。在两电极间可能形成的极化忽略不计。3) 体积电阻率：绝缘材料里面的直流电场强度与稳态电流密度之商，即单位体积内的体积电阻。4) 表面电阻：在试样的某一表面上两电极间所加电压与经过一定时间后流过两电极间的电流之商；该电流主要为流过试样表层的电流，也包括一部分流过试样体积的电流成分。在两电极间可能形成的极化忽略不计。表面电阻率：在绝缘材料的表面层的直流电场强度与线电流密度之商，即单位面积内的表面电阻。2.2测量原理根据上述定义，绝缘体的电阻测量基本上与导体的电阻测量相同，其电阻一般都用电压与电流之比得到。现有的方法可分为三大类：直接法，比较法，时间常数法。这里介绍直接法中的直流放，该方法采用直流放大器，对通过试样的微弱电流经过放大后，推动指示仪表，测量出绝缘电阻，基本原理见图1。图1 SB36型1017Ω超高电阻测试仪测试原理图。U—测试电压(V)；R0—输入电阻(Ω)；RX—被测试试样的绝缘电阻(Ω)当R0《Rx时，则 Rx=(U/U0)·R0 (1)式中：Rx——试样电阻，(Ω)，U——试验电压，(V)，U0——标准电阻R0两端电压，(V)，R0——标准电阻，(Ω)。测量仪器中有数个不同数量级的标准电阻，以适应测不同数量级Rx的需要，被测电阻可以直接读出。SB36型一般可测1017Ω以下的绝缘电阻。从Rx的计算公式看到Rx的测量误差决定于测量电压U、标准电阻R0以及标准电阻两端的电压U0的误差。2.3测量技术通常，绝缘材料用于电气系统的各部件相互绝缘和对地绝缘，固体绝缘材料还起机械支撑作用。一般希望材料有尽可能高的绝缘电阻，并具有合适的机械、化学和耐热性能。绝缘材料的电阻率一般都很高，也就是传导电流很小。如果不注意外界因素的干扰和漏电流的影响，测量结果就会发生很大的误差。同时绝缘材料本身的吸湿性和环境条件的变化对测量结果也有很大影响。影响体积电阻率和表面电阻率测试的主要因素是温度和湿度、电场强度、充电时间及残余电荷等。体积电阻率可作为选择绝缘材料的一个参数，电阻率随温度和湿度的变化而显著变化。体积电阻率的测量常常用来检查绝缘材料是否均匀，或者用来检测那些能影响材料质量而又不能用其他方法检测到的导电杂质。由于体积电阻总是要被或多或少地包括到表面电阻的测试中去，因此只能近似地测量表面电阻，测得的表面电阻值主要反映被测试样表面污染的程度。所以，表面电阻率不是表征材料本身特性的参数，而是一个有关材料表面污染特性的参数。当表面电阻较高时，它常随时间以不规则的方式变化。测量表面电阻通常都规定1min的电化时间。（1）温度和湿度：固体绝缘材料的绝缘电阻率随温度和湿度的升高而降低，特别是体积电阻率随温度改变而变化非常大。因此，电瓷材料不但要测定常温下的体积电阻率，而且还要测定高温下的体积电阻率，以评定其绝缘性能的好坏。由于水的电导大，随着湿度增大，表面电阻率和有开口孔隙的电瓷材料的体积电阻率急剧下降。因此，测定时应严格地按照规定的试样处理要求和测试的环境条件下进行。（2）电场强度：当电场强度比较高时，离子的迁移率随电场强度ZG而增大，而且在接近击穿时还会出现大量的电子迁移，这时体积电阻率大大地降低。因此在测定时，施加的电压应不超过规定的值。（3）残余电荷：试样在加工和测试等过程中，可能产生静电，电阻越高越容易产生静电，影响测量的准确性。因此，在测量时，试样要彻底放电，即可将几个电极连在一起进行短路。（4）杂散电势的消除：在绝缘电阻测量电路中，可能存在某些杂散电势，如热电势、电解电势、接触电势等，其中影响的为电解电势。用高阻计测量表面潮湿的试样的体积电阻时，测量极与保护极间可产生20mv的电势。试验前应检查有无杂散电势。可根据试样加压前后高阻计的二次指示是否相同来判断有无杂散电势。如相同，证明无杂散电势；否则应当寻找并排除产生杂散电势的根源，才能进行测量。（5）防止漏电流的影响：对于高电阻材料，只有采取保护技术才能去除漏电流对测量的影响。保护技术就是在引起测量误差的漏电路径上安置保护导体，截住可能引起测量误差的杂散电流，使之不流经测量回路或仪表。保护导体连接在一起构成保护端，通常保护端接地。测量体积电阻时，三电极系统的保护极就是保护导体。此时要求保护电极和测量电极间的试样表面电阻高于与它并联元件的电阻10～100倍。线路接好后，应首先检查是否存在漏电。此时断开与试样连接的高压线，加上电压。如在测量灵敏度范围内，测量仪器指示的电阻值为无限大，则线路无漏电，可进行测量。（6）条件处理和测试条件的规定:固体绝缘材料的电阻随温度、湿度的增加而下降。试样的预处理条件取决于被测材料，这些条件在材料规范中规定。推荐使用GB10580《固体绝缘材料在试验前和试验时采用的标准条件》中规定的预处理方法。可使用—水溶液潮湿箱进行湿度预处理。测试条件应与预处理条件尽可能地一致，有些时候(如浸水处理)不能保持预处理条件和测试条件一致时，则应在从预处理环境中取出后在尽可能短时间内完成测试，一般不超过5分钟。（7）电化时间的规定:当直流电压加到与试样接触的两电极间时，通过试样的电流会指数式地衰减到一个稳定值。电流随时间的减小可能是由于电介质极化和可动离子位移到电极所致。对于体积电阻率小于1010Ω·m的材料，其稳定状态通常在1分钟内达到。因此，要经过这个电化时间后测定电阻。对于电阻率较高的材料，电流减小的过程可能会持续几分钟、几小时、几天，因此需要用较长的电化时间。如果需要的话，可用体积电阻率与时间的关系来描述材料的特性。当表面电阻较高时，它常随时间以不规则的方式变化。测量表面电阻通常都规定1分钟的电化时间。3仪器与试样3.1仪器SB36固体（液体）体积电阻率及表面电阻率测试仪。该仪器工作原理属于进接法中的直流放，测量范围106～1017Ω，误差≤10%。图2 SB36固体（液体）体积电阻率及表面电阻率测试仪外形图图3 三电极电阻测量系统为准确测量体积电阻和表面电阻，一般采用三电极系统，圆板状三电极系统见图3。测量体积电阻Rv时，保护电极的作用是使表面电流不通过测量仪表，并使测量电极下的电场分布均匀。此时保护电极的正确接法见图4。测量表面电阻Rs时，保护电极的作用是使体积电流减少到不影响表面电阻的测量。图4 体积电阻Rv和表面电阻Rs测量示意图3.2试样及其预处理试样不同比例的聚丙烯与碳酸钙共混物样片(φ100圆板，厚2&plun;0.2mm)5只预处理试样应平整、均匀、无裂纹和机械杂质等。用蘸有深剂(此溶剂应不腐蚀试样)的绸布擦试；把擦净的试样放在温度23&plun;2℃和相对湿度65&plun;5%的条件下处理24小时。测量表面电阻时，一般不清洗及处理表面，也不要用手或其他任何东西触及。4实验4.1准备使用前，面板上的各开关位置应如下：ａ) 倍率开关置于灵敏度档位置。ｂ) 测试电压开关置于“10V”处c) “放电-测试”开关置于“放电”位置。d) 电源总开关(POWER)置于“关”。e) 输入短路揿键置于“短路”。f) 极性开关置于“0”。检查测试环境的湿度是否在允许的范围内。尤其当环境湿度高于80%以上时，对测量较高的绝缘电阻(大于10 11Ω及小于10-8 A)时微电流可能会导致较大的误差。接通电源预热30分钟，将极性开关置于“+”，此时可能发现指示仪表的指针会离开“∞”及“0”处，这时可慢慢调节“∞”及“0”电位器，使指针置于“∞”及“0”处。4.2测试将被测试样用测量电缆线和导线分别与讯号输入端和测试电压输出端连接。 将测试电压选择开关置于所需要的测试电压档。 将“放电-测试”开关置于“测试”档，输入短路开关仍置于“短路”。对试样经一定时间的充电以后(视试样的容量大小而定，一般为15秒。电容量大时，可适当延长充电时间)，即可将输入短路开关揿至“测量”进行读数，若发现指针很快打出满刻度，应立即揿输入短路开关，使其置于“短路”， 将“放电-测试”开关置于“放电”档，等查明原因并排除故障后再进行测试。 当输入短路开关置于测量后，如发现表头无读数，或指示很少，可将倍率开关逐步升高，数字显示依次为7、8、9、…直至读数清晰为止(尽量取仪表上1～10的那段刻度)。通过旋转倍率旋钮，使示数处于半偏以内的位置，便于读数。测量时先将RV/RS转换开关置于RV测量体积电阻，然后置于RS测量表面电阻。读数方法如下：表头指示为读数，数字显示为10的指数，单位W。用不同电压进行测量时，其电阻系数不一样，电阻系数标在电压值下方。将仪表上的读数（单位为兆欧）乘以倍率开关所指示的倍率及测试电压开关所指的系数（10V为0.01；100V为0.1；250V为0.25；500V为0.5；1000V为1）即为被测试样的绝缘电阻值。例如：读数为3.5´106W倍率开关所指系数为108，测量电压为100V，则被测电阻值为：3.5´106´108´0.1 =3.5´1013W。 在测试绝缘电阻时，如发现指针有不断上升的现象，这是由于电介质的吸收现象所致，若在很长时间内未能稳定，则一般情况下取接通测试开关后一分钟时的读数作为试样的绝缘电阻值。一个试样测试完毕，即将输入短路揿键置于“短路”，测试电压控制开关置于“关”后，将方式选择开关拨向放电位置，几分钟后方可取出试样。对电容量较大的试样者需经1分钟左右的放电，方能取出试样，以免受测试系统电容中残余电荷的电击。。若要重复测试时，应将试样上的残留电荷全部放掉方能进行。然后进入下一个试样的测试：为了操作简便无误，测量绝缘材料体积电阻(Rv)和表面电阻(Rs)时采用了转换开关。当旋钮指在Rv处时，高压电极加上测试电压。保护电极接地，当旋钮指在Rs处时，保护电极加上测试电压，高压电极接地。 仪器使用完毕，应先切断电源，将面板上各开关恢复到测试前的位置，拆除所有接线，将仪器安放保管好。4.3注意事项（1）试样与电极应加以(将箱合上盖子)，否则，由于外来电磁干扰而产生误差，甚至因指针的不稳定而无法读数。（2）测试时，人体不可接触红色接线柱，不可取试样，因为此时“放电-测试”开关处在“测试位置”，该接线柱与电极上都有测试电压，危险!!（3）在进行体积电阻和表面电阻测量时，应先测体积电阻再测表面电阻，反之由于材料被极化而影响体积电阻。当材料连续多次测量后容易产生极化，会使测量工作无法进行下去，出现指针反偏等异常现象，这时须停止对这种材料测试，置于净处8h-10h后再测量或者放在无水酒精内清洗，烘干，等后再进行测量（4）经过处理的试样及测量端的绝缘部分绝不能被脏物污染，以保证实验数据的可靠性。（5）若发现指针很快打出满刻度，应立即将输入短路开关置于“短路”，测试电压控制开关置于“关”，等查明原因并排除故障后再进行测量。（6）当输入短路开关置于测量后，如果发现表头无读数，或指示很少，可将倍率逐步升高。（7）若要重复测量时，应将试样上的残余电荷全部放掉方能进行。数据处理体积电阻率ρvρv=Rv(A/h)，A=(π/4)·d22=(π/4)(d1+2g)2 (3)式中，ρv ——体积电阻率(Ω·m)，Rv ——测得的试样体积电阻(Ω)，A ——测量电极的有效面积(m2)，d1 ——测量电极直径(m)，ｈ ——绝缘材料试样的厚度(m)，g ——测量电极与保护电极间隙宽度(m)，表面电阻率ρvρs=Rs(2π)/㏑(d2/d1) (4)式中，ρv ——表面电阻率(Ω)，Rs ——试样的表面电阻(Ω)，d2 ——保护电极的内径(m)，d1 ——测量电极直径(m)。需要的数据d1 = 5 cmd2 = 5.4 cmh = 0.2 cmg = 0.2 cm
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nD60K数字金属电导率测量仪产品简介:D60K型数字金属电导率测量仪.可直接测量和分析有色金属材料及其合金的电导率值(如测量银、铜、铝、镁、钛、奥氏体等及其合金的电导率值)。同时也用于间接测量和评价与金属材料电导率有密切关系的参量，如合金识别和验证、热处理状态和热损坏验证、材料力学评估、决定粉末合金零部件的密度等。技术参数：工作频率：60KHZ电导率测量范围：5.0-MS/m或8.6-110.0%IACS灵敏度：1%测量精度：&plun;1%—&plun;2%（在5.0—29.9MS/m范围时&plun;2%,在30—MS/m范围时&plun;1%）提离补偿：补偿达0.1mmZ小检测平面范围： Ф16mm环境范围：0-90%相对湿度，0-45℃可靠工作电池电压：4×1.2V”AA”充电电池（Ni-MH/Ni-cd）或”AA”碱性电池功率：电池为1800mA/h，不用背光持续工作时间约为60小时显示：LCD液晶，有背光灯功能主机重量：1Kg主机尺寸：195×135×70mm仪器特点：◆具备互换性，用户可自行更换◆采用单片机数据处理，读数精确可靠◆良好温度补偿确保仪器可靠、稳定◆测量的计量单位MS/m或%IACS变换方便◆ 体积小、易携带、能耗低，有背光功能使用范围：◆铝，铜加工工业中的电导率测试◆在航空航天和汽车工业中，监控热处理过程，锻铝合金的强度和硬度◆铝阳极氧化之前电导率检验◆检验材料纯度等级和废料分选
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nMKY-KDY-1型四探针电阻率测试仪MKY-KDY-1型四探针电阻率测试仪是严格按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。仪器特点如下：1、配有双数字表：一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更精确。数字电压表量程：0—199.99mV 灵敏度：10μV 输入阻抗：1000ΜΩ 基本误差&plun;(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围：10—4—1.9×104Ω·cm。 可测方块电阻范围：10—3—1.9×105Ω/□。3、设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。4、流经硅片的测量电流由高度稳定（万分之五精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响，整机测量精度＜3%。电流量程分五档：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。5、仪器采用触点电阻更低（＜5mΩ）、使用寿命更长的转换开头及继电器（＞10万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。6、可加配电脑，使用专用软件进行数据采集,实现自动换向测量、存储,求平均值，值、Z小值、百分变化率、平均百分变化率等内容。7、可配KDDJ-2电动测试架，自动上下运行，使测量更方便快捷。
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n产品特点：表面电阻测试仪是一种测试物体表面电阻率和对地电阻的仪器，可进行简单可重复的导电性能、静电耗散、绝缘表面性能的测量。● 采用精密、低功耗运算放大器，JZ解算，液晶模块显示；● 灵敏度高，使用方便；● 体积小、重量轻、耗电小；● 便携式设计，携带方便。表面电阻测试仪BK485E温度范围5~49℃(使用中)-15~60℃(存储中)相对湿度0-90RH%解析一个数级量转换点对数计上1/2十进(3.16x10n)转换点精度&plun;1/2十进精确度&plun;5%可重复性&plun;5%外型尺寸137(L)×76(W)×30(H)mm
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