ATA1200A宽带功率放大器北京放大器

  ATA1200A宽带功率放大器西安厂家产品指标：

• 输出电压35Vp-p(±17.5V)

• 输出电流1A

• 带宽（-3dB）DC~24MHz

• 压摆率 2000V/μs

• 低失真
简介：

ATA-1200A是一款理想的可放大交、直流信号的单通道宽带放大器。输出电压35Vp-p (±17.5V)，输出电流1A，可与主流的信号发生器配套使用，实现信号的放大。

产品品Pai：西安安泰电子（Aigtek）产品产地：陕西西安   产品应用场所：MEMS实验、压电陶瓷、水声（换能器）磁性材料的磁化特性（B-H曲线）测量以及YL领域（磁场生物效应）

输入Input 
 输入为BNC接口，输入电阻50Ω、1MΩ两档可选，匹配高低内阻信号源。

输出Output

输出为接线柱（Rout 1Ω）、BNC（Rout 50Ω）两种接口可选，差分输出电压35Vp-p(±17.5V)，输出电流1A。
液晶显示Liquid-crystal Display

ATA-1200A采用液晶屏显示，设备状态及参数动态显示，操作界面一目了然，简洁易懂。

电压增益Voltage Gain
 

ATA-1200A宽带放大器电压增益0~20dB可调（0.5dBstep）客户可根据自己的需求进行调节。

 

通道数:
ATA-1200A:	单通道
输入接口特点:
输入接口:	BNC接口
输入电阻Rin:	50Ω / 1MΩ可切换
输入上限Input:	10Vp-pMAX
输出接口特点:
输出形式:	单端输出
输出接口:	接线柱（Rout 1Ω） BNC接口（Rout 50Ω）
输出电阻Rout:	1Ω / 50Ω可切换
带宽（-3dB）:	DC ~24MHz
电压增益:	0~20dB可调(0.5dB step)
压摆率:	2000V/μs
输出电压:	35Vp-p (±17.5V)
输出电流:	1A
输出功率:	17.5W
负载上限RL:	≥17.5Ω
输出保护:	过载保护

宽带功率放大器应用案例：

光学系统和精密跟踪瞄准系统应用：

在自适应光学系统和精密跟踪瞄准系统中，作为波前校正和快速精密跟踪的关键元件——变形反射镜(DM ) 和高速倾斜反射镜(TM ) 与传统的跟瞄系统构成多环复合控制系统，使其系统跟踪精度大大提高(达1μrad) ，系统跟踪带宽从几Hz到数十Hz。

目前的变形镜和倾斜镜的驱动器是利用压电陶瓷(PZT ) 材料的逆压电效应以特殊工艺研制而成的。要使驱动器产生需要的位移量，必需在PZT 的正负两极施加高达1500Vpp 的控制电压。而控制电压的变化频率达数百Hz，这就需要与之相适应的高压驱动放大器。系统中要求的跟踪范围越大、跟踪精度和速度越高，越要求高压放大器在大电容负载情况下，输出电压要高，带宽要宽，噪声、纹波和漂移要小。在设计高压放大器时，同时满足这些要求是相当困难的。

西安安泰电子科技有限公司生产的ATA-2160高压放大器可以完全满足应用要求，输出电压高达1600Vpp，输出电流达40mA，带宽（-3dB）更是达到DC-150KHz。在目前的自适应光学和跟瞄系统试验中完全能够满足要求。其电压、带宽和输出电流为自适应光学和跟瞄系统的发展提供技术保障。

ATA-2000系列高压放大器，可以输出理想的单端及差分信号，为压电陶瓷领域的研究提供了快捷的工具。同时该系列功率放大器，为了更好的为MEMS测试客户应用，提供了完善的阻抗匹配网络，方便用户选择对应匹配阻抗。ATA-2000系列高压放大器的增益数控可调，通过0.1的步进对于信号进行JZ放大，方便用户调试。同时具有100:1的信号监控口，方便用户实时观测输出波形的变化。采用液晶显示，操作简单易懂。

西安安泰电子科技有限公司（Aigtek）是国内领先从事测量仪器研发、生产和销售的高科技企业。公司致力于功率放大器、计量校准产品、线束测试仪等产品为核心的相关行业测试解决方案的研究，为用户提供具有竞争力的测试方案，Aigtek 已经成为在业界拥有广泛产品线，且具有相当规模的仪器设备供应商。

公司依托西安交通大学及西北工业大学的知名科研机构联合组成研发团队，拥有国际化的先进技术，及数量众多的专利和技术创新。公司拥有多名经验丰富的高级工程师，能够完成各类测试设备与测试系统的研发与生产。我们提供免费样机SY，免费专业工程师培训，免费测试技术交流。

公司主营产品

ATA功率放大器、ATG功率信号源产品应用于 MEMS 实验、压电陶瓷、水声（换能器）磁性材料的磁化特性（B-H 曲线）测量以及YL领域（磁场生物效应）等众多领域；

ATS高精度电压源、电流源系列应用于芯片检测、校准仪器精度、电子测试设计等领域；

ATX线束测试仪系列主要用于线缆线束的设计、生产以及检验测试。测试主要针对复杂线缆线束的导通、绝缘、耐压及元器件性能指标的测试和检验等。