产品介绍： Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界领先。 采用了FlexFP-Multi技术，无论是过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。 Ux-720微移动平台和高清CCD搭配，旋钮调节设计在壳体外部，观察移动位置简单方便。 X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。 Ux-720镀层测厚仪采用了华唯专利技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。 样品移动设计为样品腔外部调节，多点测试时移动样品方便快捷，有助于提升效率。 设计更科学，软硬件配合，机电联动，辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。 软件操作具有操作人员分级管理权限，一般操作员、主管使用不同的用户名和密码，测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。产品指标：测厚技术：X射线荧光测厚技术测试样品种类：金属镀层，合金镀层测量下限：0.003um测量上限：30-50um（以材料元素判定）测量层数：10层测量用时：30-120秒探测器类型：Si-PIN电制冷探测器分辨率：145eV高压范围：0-50Kv，50WX光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类；光管靶材：Mo靶；滤光片：专用3种自动切换；CCD观察：260万像素微移动范围：XY15mm输入电压：AC220V，50/60Hz测试环境：非真空条件数据通讯：USB2.0模式准直器：Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm软件方法：FlexFP-Mult工作区：工作区 自定义样品腔：330×360×100mm
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n性能优势:独特的激发X光源采用天瑞专利技术－－独特的激光X光源、样品激发装置和探测系统，大大提高仪器元素的检测灵敏度，降低检出限。性能、微量X荧光检出专家采用独特的光路设计和双引擎设计，并结合使用多组滤片和多组光管激发靶材的切换，大大地降低了仪器的信噪比，使该仪器在X荧光设备中具有超低的元素检出限。大器稳重、准确无损大样品腔设计，适合于不同大小和形状的样品测试。采用了多重信号的电路处理和滤波技术，使测试更加稳定准确。自动化程度高、高清仪器多组滤片和光路自动切换，自动升降测试盖，高清头辅助。专业软件专业软件，特别针对玩具指令检测的应用软件，具有灵敏度高、测试时间短、操作简易、对操作人员小的特点。信噪比增强器天瑞专利产品－－信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上。人性化设计具有现代化的外观，结构和色彩，上盖电动控制开关，更人性化。技术指标:元素分析范围：硫（S）～铀（U）分析含量：0.1ppm～99.9%重复性：0.1%稳定性：0.1%环境温度：15℃～30℃电源：交流220V&plun;5V（建议配置交流净化稳压电源）仪器配置:超锐X光源和样品激发机构上盖电动开关的大容量样品腔可自动切换的准直器，滤光片高清晰CCD头Si-PIN探测器信号检测电子电路高低压电源计算机及喷墨打印机专业X荧光分析软件
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n能量色散光谱仪 | 波长色散光谱仪| 气相色谱仪| 液相色谱仪 | 原子荧光光谱仪 | 原子吸引光谱仪..|仪器介绍|环保是世界的潮流，不断出现的环境污染事件，如近日的陕西凤翔的血铅超标事件，使人们日益关注自身的健康，关注有害元素对人的危害，世界各国都陆续了相关控制商品中有害元素含量的法规，而且对有害元素的值呈日渐降低的趋势，例如，2006年7月1日实施的欧盟RoHS指令中铅元素值是1000ppm,近期实施的美国消费品安全法（简称CPSIA），铅元素值降低到90ppm。面对这市场需求，秉承“天瑞仪器，无微不至”的精神，采用技术，特别设计了SUPER系列的X荧光光谱仪。|性能特点|1. 采用天瑞专利技术――独特的激发X光源，样品激发结构和探测系统，大大提高仪器元素的检测灵敏度（降低检出限）；2. 具有现代化的外观，结构和色彩，上盖电动控制开关，更人性化；3. 准直器，滤光片自动切换，可适应不同的样品测试要求；4. 大容量的样品腔和高清头，样品测量更灵活方便。5.配备功能齐全的测试软件。|技术指标|元素分析范围从硫（S）到铀（U）。分析含量一般为0.1ppm到99.9％。有害元素检出限比普通的台式X荧光光谱仪有极大的提高。多次测量重复性可达0.1％。长期工作稳定性为0.1％。温度适应范围为15℃至30℃。电源。交流220V&plun;5V。建议配置交流净化稳压电源。|标准配置|超锐X光源和样品激发机构。上盖电动开关的大容量样品腔。可自动切换的准直器，滤光片。高清晰CCD头。Si-PIN探测器。信号检测电子电路。高低压电源。计算机及喷墨打印机。专业X荧光分析软件|应用领域|金属冶金行业微量元素的分析及金属中微量有害元素的分析环保土壤、空气及水等介质中痕量重金属的分析金属成品制造行业树脂膜层中微量元素的分析贵金属行业中微量对人体有害元素微量元素的分析行业中微量元素的分析金属镀层行业金属镀层亚纳米级厚度的分析外贸出口行业中对人体有害元素微量的分析玩具出口行业中八大中金属微量元素的分析
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nHeLeex E8特点介绍说明非常感谢贵公司关注了我公司HeLeeX E8型X射线荧光光谱仪（以下简称E8），请允许我们讲述一下她的特点：l外观E8的外形由留学美国的工业设计专家按照人体工学原理设计：1）E8的宽度、长度分别与成年ZG人肩宽、臂长相适应，方便使用和搬运；2）E8的高度合理，特殊的前倾取样门使用户操作时恰好能方便的取放样品；3）E8的外形精致，整机重量仅33.5kg；4）表面处理采用了业内端的钣金喷漆工艺。5）E8的散热系统由空气动力学专家设计，其入风通道与出风通道都设置在机箱底部和后部，正面和侧面都没有开口通道，防止了灰尘进入和射线泄漏。l可视窗E8配有国内SC的可视样品窗，让用户可用合适的角度观察样品，目前拥有这种设计的EDXRF均为国际高端品Pai的产品，如如荷兰帕纳科PANalytical的Epsilon 5系列、Axios系列，德国布鲁克Bruker的S2 RANGER系列，德国斯派克SPECTRO的MIDEX系列等。l安全防护E8拥有业界Z完备的安全防护系统：1)E8的X射线管窗口背向操作人员，射线向后方照射（国际上同类仪器多采用向后照射方式），保证用户安全。；市场上某些EDXRF的X射线管向前方或侧方照射，测试过程中若因锁死装置磨损而使样品盖自动弹起，可能会发生有辐射泄漏事故。2)E8的样品室取样门有铅板夹层，样品室采用全封闭设计，并有迷宫式结构，防止射线泄漏；某些EDXRF的样品室设计不合理，样品室内部两侧气弹簧位置有两个孔洞，在测试金属等导电样品时，如不慎将小物品掉入孔洞，可能引发电路短路等严重事故，且掉入孔洞的物品很难取出。3)E8的安全联锁装置可在0.05微秒内切断X射线源，用户即使误操作也不会发生危险；4)E8的样品窗所使用的F3型防辐射铅玻璃是防X射线、γ射线的理想透明防护材料，可防护100kV的X射线源产生的高能X射线，而E8所使用的X射线源电压为50kV，因此E8的可视样品窗是安全的。经ZG计量院权威检测，E8满功率运行时周围辐射剂量等于环境本底。l内部结构E8的光路系统和核心结构设计时总结并吸取了国内外各品PaiXRF使用中产生的经验与教训，达到国际先进水平：1）E8超短的光路可以提高激发效率，降低X射线管使用功率，延长寿命；2）E8配有专利的模块化准直器，可快速更换，灵活应对各类材质的样品；3）E8配有Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3.0mm、Φ5.0mm多种光斑可自动切换，分析小面积的样品时可免于拆分。l电气系统E8的内部电气系统充分符合电磁兼容性原理，用Z短的传导距离保证电气设备的电磁，并保证各设备之间没有串扰。E8符合EMC标准,取得了ZG合格评定国家认可委员会出具的EMC、安规、FCC合格证书：l软件核心E8的软件工作站Heleex ED Workstation了多年XRF应用经验，做到精密、准确，并且简单、易用：1）谱处理与基体校正方法应用了国际技术成果，了标准曲线法；2）一键备份、一键还原功能使用户可快速备份和还原参数、数据，保护数据安全；3）式的分析模型让用户可方便的建立专用分析模型，使软件拥有了强大的扩展功能。l用户界面E8有人性化的用户操作界面，采用模块化设计，功能清晰，充分考虑到用户的使用熟练度，做到既让新用户不会因为谱图杂乱而困扰，又能满足熟练用户对谱图进一步分析的需求。E8软件中，所有需分析元素均显示在主界面的谱图上和分析元素列表中，新用户不会因为所有不需元素都显示在谱图上而产生困扰和误判断。有经验的熟练用户可简单的使用Ctrl+鼠标左键选择全谱图中的任意能量位置，以显示该位置可能有的元素线系种类，从而对谱图进行分析。某些EDXRF软件将被测样品中所有可能存在的元素全部显示在谱图上，并使用不同颜色表示不同元素，造成谱图较为杂乱，不易操作，而且当分析的元素较多时，全谱图会显得五颜六色不易识别。l核心硬件E8的射线探测单元使用美国Amptek公司原装进口的X-123 Si-PIN探测系统，该系统集成了射线探测单元、前置放大器、数字脉冲处理器、多道脉冲高度分析器（MCA），集成度高，稳定性好。E8的主体硬件即使与进口高端品Pai的同类产品比较也属于高端配置。某些EDXRF的射线探测单元是进口+国产的组装件，使用了仅有射线探测单元和前置放大器的XR-100CR系统，探测单元的其它部分则使用较低档的国产器件，虽然大大降低了成本，但探测系统的整体稳定性低，故障率高。请允许我们对目前市场上一些EDXRF的情况做一点说明，以便您做了解。目前某些国产EDXRF还在使用多年前的硬件和软件设计，当时的设计目的是为了用户的使用方便，但经过多年市场检验证明，这些过时的设计是多余的甚至反而会给用户造成困扰或危险。某些EDXRF还在采用样品盘手动移动装置，目前普通EDXRF客户所测试的都是较小样品，用手即可调整样品位置，样品盘移动装置无甚必要，而且样品盘移动装置的缝隙易进灰尘，调节装置有时会卡死，其精度也无法保证，禾苗在设计E8时就未采用此种装置。部分早期的国产EDXRF采用自动弹起式样品盖装置，这种样品盖会自动开启。早在国内XRF市场兴起初期，部分国产品Pai的产品曾使用过此类装置，但在产品推向市场后发现，有时会出现锁死装置和安全联锁装置失灵而导致样品盖在测试过程中弹起的现象，此时仪器的射线装置仍在射出X射线，正在操作仪器的用户会被射线照射发生射线泄漏事故。目前市场上的绝大多数EDXRF均采用使用外力才能开启的样品盖以防止射线泄漏事故隐患。感谢您对E8的关注，您的意见是我们的财富，您的需求是我们的未来，期待与您进行更多的技术交流并接受您的批评与指导，请贵公司多向我们提出意见与建议。
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nHAB100-C是一款经济、实用、操作简便的X射线荧光光谱仪，适用范围：1、尺寸较大的五金、接插件、电气连接器电镀，塑料、ABS、镁铝合金电镀；2、尺寸较大、含量普通的合金材料分析；3、镀液分析。镀层厚度检测:五金、接插件、电气连接器电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP、SnPb合金、SnCu合金、ZnNi合金、等；塑料、ABS、镁铝合金电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP等合金材料分析:1.不锈钢中的Fe、Cr、Ni、Mo等成分 2.黄铜中的Cu、Zn、Pb等成分3.铜中的Cu、Zn、Sn、Pb等成分4.焊锡中的Sn、Pb等成分镀液分析:电镀液中Au、Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn的主盐的浓度主要配置：一、射线激发系统：射线照射方向：1.从上往下硅脂X光光管靶材：钨，钼，铑（可选）.标配：钨A 光闸可防止受X射线照射二、高压供应系统功率：50W(4-50kV,0-2.0mA)电压和电流可设计三、探测器密封式高计数正比计数器四、样品观察系统高清晰彩色头，可将样品放大20倍五、准直器及滤光单一固定准直器（φ0.2mm），固定铝箔六、系统及软件Xp操作系统，THICK5.0基于FP算法的镀层测厚软件，终身免费升级。七、样品台程控三维样品台。八、技术支持24小时全天候技术支持。
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