技术参数
新的 X 射线荧光 (XRF) 分析仪 X-MET5100 将手持式仪器的分析性能提高到全新水平。
X-MET5100 将牛津仪器的硅漂移探测器 (SDD) 和强大的 45 千伏 X 射线管结合起来，显示了仪器设计上的革命性突破。这种技术提供了快速、高精度的测量，并且无需借助复杂的真空泵或氦气罐等附属设备就可以对镁、铝、硅等轻元素进行测量，这是手持式 X 射线荧光 (XRF) 分析的一大飞跃。
PMI 检测行业、废旧金属回收行业、特别是航空工业终于拥有了他们一直期待的坚固的便携式 XRF 轻元素测试工具。X-MET5100 保证了铝及钛合金的实验室质量分析的精确性，它对检测铜、镍和钢等金属材料中含有的轻金属元素时的敏感性也是无与伦比的。
硅漂移探测器 (SDD)、45 千伏 X 射线管和经验系数分析方法的强大结合，意味着 X-MET5100 可以在短短 1 秒钟内，准确地分析和确定金属合金成分。受限物质（重金属元素）、玩具中的铅、土壤中的污染物和矿石中的微量物质可以得到准确测量，其速度之快，在从前是绝无可能的。在几秒钟之内，就可以得到 ppm 级的痕量元素检测结果。X-MET5100 无与伦比的速度和准确性确保了GX可靠的实时检测结果。
X-MET5100 是牛津仪器用于日常多元素分析的 X-MET5000 的升级产品，后者于今年早些时候成功推出。这两款仪器都符合 IP54 (NEMA 3) 防尘防水认证要求，能够承受苛刻的工作条件。
X-MET5100 已于 9 月在拉斯维加斯国际钛展览会和德国埃森世界铝贸易博览会上成功展出。预计将于2008 年11 月11 日至13 日在北京国际会议ZX举行的2008（第五届） ZG矿业博览会上首次在ZG展出。
主要特点
Twin-X结合了两种已获得广泛应同的牛津探测器技术：FOCUS 5+探测系统和PIN探测器技术。其轻便紧凑的一体化设计和的多用途与高性能，使其荣获IBO (Instrument Business Outlook)工业设计奖。详情请点击这里。
两种探测器技术的组合可以达到对元素周期表种中不同位置的元素更全面的检测。其中FOCUS 5+自从其引进到Lab-X3000中后，已经获得了巨大的成功和广泛的认可。
FOCUS 5+实现了对目标元素的激发和目标元素的选择性检测，其优势是检测元素周期表中原子序数较低的元素，如Na，Mg，Al，P，S，Ci，K，Ca，……
PIN探测器技术的优势则在于对复杂金属基体的检测。它可以实现对高原子序数元素的高灵敏度和高分辨率分析，这些元素如Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，……
