蛟河射线镀层厚度测量仪 β射线测厚仪信誉保证

产品描述：
n 日本精工SFT3000 X-射线镀层厚度测量仪八成新－－-日本原装进口. 适用于五金、电镀、精品首饰、电子、手表、电路板等镀层测量,如镀金、银、镍等微小部位的高精度测量，采用高速样品台可高精度的检测微小样品，保修半年。
n 日本精工电子有限公司－－－－研发出日本台荧光X-射线镀层厚度测量仪SFT-157. 经过20多年的努力, 现在的荧光X-射线镀层厚度测量仪能够准确的测量微小面积的镀层厚度。 已被全世界电子零部件、印制电路板、汽车零部件、各种电镀产品生产及相关厂商广泛使用和认可，从此 “SFT”“XRF” 几乎成为镀层厚度测量仪的代名词。$nX-射线镀层厚度测量仪的特征:$n 1.可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。 2.可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。 3.备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。
n$n $n $n 技术参数：
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n $n泰亚赛福作为众多知名品Pai的合作伙伴，以的价格+完善的售后服务体系向您提供产品。“服务、质量、价格”！
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n产品描述：
n EX-3000荧光X线膜厚计
n搭载MS-WINDOWS系统（优越的操作性与高精度测定）
n与IBM PC 相容个人电脑$n使用与IBM PC相容个人电脑，采用MS-WINDOWS软体，使用时多彩多姿。$n采用二种滤波器$n用用数位式滤波器外另有机械式滤波器（两种滤波器），在测定时，若是Z适当的条件下，经常可得到的精度。
n准值仪5种孔径内藏式$nZ小的准值仪孔径仅0.1 mm，可测定极微小的部品。$n标准：0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另备有2种特别规格可供选购。$n0.05,0.1,0.2,0.3,0.5$n0.05*0.5,0.1,0.2,0.3,0.5
n自动测定测量台$n利用滑鼠来调整测量位置，非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。
n优越的显示机能$n测定部显示尽像的表示$nX线照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置，可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。
n在膜厚测定中的能谱表示$n由多频分析器可快速处理能谱分析。可执行测定物的能谱分析表示，操作简单。$n提长资料处理的速度
n充实测量报告的作成机能$n采用MS-WINDOW软件，测定画的撷取，非常简便，可充衬测量报告的制作机能。可同时间隔处理多项工作，机器在测量中亦可处理其他工作：包括如测量报告的制作。
n测定物膜厚附著分布表示$n以三次元图案来表示测定物膜厚附著状态的分布，作判定时一目了然。
n获得安心的保证性$n自己诊断机能及X线管保食机能$n自己诊断机能，迅速的对策来排除机器的因扰。附有X线管的使用时间及耐久时间表示机能，可加强保食的安全性。
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n产品描述：
n 二手美国VEECO XRF5000系列x-射线金属PCB镀层测厚仪$n1. 全视窗95直接执行可使用文书处理软件方便打印测量报告。
n2. 樣品對準系统可用滑鼠於显示屏上直接控制，非一般Pai子，只能局部控制.
n$n3. 可测量不同单/双金属镀层厚度 可测涂层厚度 可做电镀药夜金属含量分析
n4． 全自动马达驱动准器。
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n产品描述：
n MaXXiRoHSX荧光镀层测厚仪 德国CompactecoX-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行，只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.。轻巧的样品室，适合不同大小的样品，功能实用，准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的。可测量各类金属层、合金层厚度，附带功能：合金成份分析，电镀液成份分析，中文简体、繁体、英文操作系统。 豪华的设计，宽大的测试箱，集所有优点于一身;更配备半导体电子冷却检测器，令仪器的综合性能指数变得无出其右,适合各类行业使用;并可以做有害物质的RoHS分析. 安全性能：通过德国PTB安全验证，符合德国安全法规标准。 可测元素范围：钛(Ti)–铀(U) 可测量厚度范围： 22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μm 准直器：0.1mm0.3mm0.1mm×0.3mm。 可选四个组合：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm50um,75um×200um,150um×300um,300um特别订造 Compacteco只配0.3mm或0.5mm。 自动测量功能：编程测量，自定测量 修正测量功能：底材修正，已知样品修正 综合性能：镀层分析定性分析定量分析镀液分析 镀层分析：可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您节省购买标准片的成本。完全超越其他品Pai的FP软件。 镀液分析：可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液。 定性定量分析：光谱表示，光谱比较，可定性分析20多种金属元素；并可合金成份分析，可定量分析成分含量。 光谱对比功能：可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度。 统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图，能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质。
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n $n泰亚赛福作为众多知名品Pai的合作伙伴，以的价格+完善的售后服务体系向您提供产品。“服务、质量、价格”！
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n产品描述：
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n技术参数 $n1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法； 2.原始射线从上至下； 3.微聚焦X-射线管高压设定可调节至的应用：50kV，40kV或30kV； 4.标准视准器组：圆形0.1/0.2/0.3和长方形0.05X0.3mm； 5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大约为105kg（120lbs）； 6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）带向上回转箱门； 7.嵌入式固定的测试件支承板，需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件； 8.电机驱动的144mm（5.7〞）X-射线头部（X-射线管，比例接收器及视准器）的Z轴运行； 9.试件查看用彩色摄像机 10.测量开始/结束按钮，X-射线头部上/下按钮及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。
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n主要特点$nFISCHERSCOPE® XDLM®-C4 是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。 微聚焦X-射线管以及电机带动的有4个不同尺寸视准器组成的视准器组使得XDLM®-C4成为测量大批量生产部件的理想测量仪器，例如螺丝，螺母和螺栓。可选择的钴接收器有效地解决铜上镀镍的测量应用问题 XDLM®的特色是独特的距离修正测量方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别，简便了测量复杂几何外形的测试工件和在不同测量距离上的测量。 与WinFTM® V.6软件及校样标准块Gold Assay结合，XDLM®作为FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分， 地适用于快速，非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。
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n仪器介绍
n适用于Windows®2000或选择适用于Windows® XP的真Win32位程序带在线帮助功能 频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用 能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化 画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离） 图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中 对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法）范围可达80mm(3.2〞) 测量模式用于： 单、双及三层镀层系统 双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度 和合金成分都能被测量) 能分析多达四种金属成分的合金，包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。 可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。 通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。 可编程的应用项图标，用于快速产品选择。 完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估。 报告生成，数据输出 语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文 菜单中的某些选择项可授权使用
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n $n泰亚赛福作为众多知名品Pai的合作伙伴，以的价格+完善的售后服务体系向您提供产品。“服务、质量、价格”！
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