产品简介:产品描述:技术参数 $n1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法,符合技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568; 2.测量箱结构坚固,使用合格的机械和电气部件; 3.测
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型号:RL192701XRF-2000L荧光金属镀层测厚仪 | $n型号:RL192712XAN-DPP射线光谱材料定量分析仪 | $n型号:RL192723XDVM-W射线荧光镀层厚度测试仪 | $n
$n 技术参数 $n 1.测量箱有效内部尺寸: 包含测量门斜面部分的尺寸:宽 = 318mm;深 = 307mm; 高 = 29 至 86mm 仅包含完整高度部分的尺寸(高:86 mm):宽 = 318mm; 深 = 203mm 高 = 86mm 2.视准器:可编程的,电机控制的4个视准器尺寸:ø0.2mm ø0.6mm ø1mm ø2mm 3.探测器:Si-PIN-二极管; Peltier-冷却 (约 -30°C). 无须液氮冷却 4.能量分辨率:180 eV 5.元素范围:铝 (Z=13) to 铀 (Z=92) 6.测量距离修正方法:专利的DCM-方法 (Distance Controlled Measurement距离控制测量) 允许工件表面凹陷处的测量 | $n||
$n $n 主要特点 $n1.针对欧盟的RoHS指令开发的有害物质测量设备。 2.完全电子制冷,无需要液态氮进行冷却,经济安全。 3.XAN拥有四个视准器可供选择,小的视准器面积为0.2mm。专门针对小样品的测量。 4.XDAL拥有四个视准器可供选择,小的视准器面积为0.1mm;该仪器为全自动的仪器,可以针对复杂样品中的有害物质,进行编程扫描测量。 5.利用镀层测厚的专业知识,可针对电镀层中的有害物质进行测量。 6.不需要标准片进行校准就可以直接进行测量的仪器。 7.可以在测量有害物质含量的同时显示样品的厚度。 | ||
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尊敬的新老客户你们好! 在地球环境日益恶化的今天,欧盟率先推出了相应的RoHS&WEEE指令以及ELV指令。RoHS指令中明确规定2006年7月1日起,在电气电子设备中限制使用某些有害物质——Pd,Hg,Cr6+,PBB, PBDE<1000ppm; Cd<100ppm。ZG信息产业部也出台的ZG版的RoHS——《电子信息产品污染FZ管理办法》。 这些指令规定中所涵盖的行业包括大小型家用电器、IT及通讯仪器、明用装置、照明器具、电动工具等,也就是说几乎所有的制造商都受到了制约。 针对这些指令,各厂家都需要在进货和出货的时候对产品进行有害物质的测量。菲希尔测试仪器有限公司利用50多年来在X射线测量仪器领域中的丰富经验,新开发了利用X射线对产品中有害物质进行无损检测的仪器——XAN-DPP。 |
$n 技术参数 $n 1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法,符合技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568; 2.测量箱结构坚固,使用合格的机械和电气部件; 3.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)720 mm×660 mm×950 mm,重量大约为135kg; 4.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)160 mm×560 mm×530 mm,带向上回转箱门; 5.原始射线从上至下; 6.高性能的X-射线管,高压及电流设定可调节至的应用,高压设定:50kV,40kV或30kV;阳极电流:连续可调至0.8mA; 7.原生电子过滤器:Ni和Be; 8.4个对焦平面用于凹槽,腔体的测量,并可达到90mm; 9.标准视准器组件Ⅰ有以下组成: 0.1mm(4mil); 0.2mm(8mil); 0.05x0.05mm(2x2 mil)方形; 0.03x0.2mm(1x8mil)带槽; 在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅱ(取代组件Ⅰ)有以下组成: 0.1mm(4mil); 0.2mm(8mil); 0.3mm(12mil)圆形; 0.05x0.3mm(2x12mil)带槽; 在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅲ(取代组件Ⅰ)有以下组成: 0.2mm(8mil);圆形; 0.05x0.05mm(2x2mil);0.025X0.025mm(2X2mils)方型;0.03mmX0.2mm(1.2X8mil)带槽; 注:当测量PC印板,电脑接插件,引线框架等小工件时,推荐使用视准器组件Ⅰ 10.自动的X-射线光束十字星校准。该特性在测量极小工件时非常有用; 11.充氙气的比例计数器,频谱处理时,内部采用4096通道的ADC,对外显示为256通道; 12.快速编程,高度,电机带动的XY工作台运行范围: 型号XDVM®-T7.1:X=175mm(7.0〃), Y=175mm(7.0〃) 型号XDVM®-T7: X=250mm(10.0〃), Y=250mm(10.0〃) 13.工作台的控制可通过鼠标点选或操作杆 14.工作台面板可自动移出至工件放置位置;定位容易; 15.电机驱动及高度(Z-轴)可编程的X-射线头部(X-射线管,比例计数器及视准器组件);Z-轴运行=145mm(5.9〞); 16.高分辨率的彩色摄像头用于测试工件的定位及查看;可选择的双重放大率X40/X80,带十字星及度量网格以及测试点尺寸指示; 17.测量箱键盘适合于常用的测量功能和程序选择,操纵杆控制X-Y工作台,钥匙控制X-射线头的缓慢或快速的上下移动,LED状态指示灯。 | $n||
$n $n 主要特点 $nFISCHERSCOPE® XDVM®-W是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。它杰出的特性包括:2组可切换的各带4个视准器的视准器组,大的开槽的测量箱体确保工件放置简便,的可编程的直流电机驱动的X-Y工作台快速和无振动移动以及原始射线从上往下设计为在Z-轴可移动的X-射线发生和接受装置。 这个特性使得该系统非常适合于测量大批量的部件,例如螺丝,连接器插针或大的线路板。按动按钮就可根据预设的测试点定位进行自动测量,并可自动的进行评估报告输出。 | ||
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适用于Windows®2000的真Win32位程序带在线帮助功能; 频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用; 能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使校准简单化; 画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像;十字星瞄准并带度量网格,以及测试点尺寸指示; 测试工件的视频图像可用BMP文件形式保存; XYZ运行编程功能:随机单点,第1点、后1点及等分的中间点,鼠标左键点选功能,鼠标右键的使用相当于操纵杆; 测量模式用于: 单、双及三层镀层系统 双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量) 能分析多达四种金属成分的合金并具分析金的K数的特殊功能。能分析含一到二种金属离子的电镀溶液; 频谱显示可自由选择颜色;并可同时显示前台和背景的频谱以便比较;频谱可储存和打印; 可使用定义的文件名进行应用文件的管理(应用文件包含应用名,数据表示方式,打印形式定义,输出模板设定及记事本); 用户可定义的报告编辑器,并自动插入测试工件的显示图像,及一些小的图片,如公司标识,图表,数据排列,字体选择;可以WinWordTM形式保存; 单个的应用可连接至任意数量的应用文件(此种连接大大减少了所需要的校准及初始化步骤); 使用条形码标签及可选的条形码读入键盘可自动选择应用; 可选择数据进行统计评估; 通过RS232串行口进行在线或离线的数据输出; 可通过RS232串行口或在网络环境下的指令文件进行远程控制; 可编程的应用项图标,用于快速应用项选择 完整的统计功能,SPC图,标准的概率图和矩形图评估 语言:英语,德语,法语,意大利语,西班牙语,中文及日文(需要特殊的Windows®版本); 可自由定义“短目录”以锁住某些重要的系统功能; |
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