产品简介:产品描述:应用范围主要适用于测定薄膜、薄片等材料的厚度。√技术特征1.测量范围宽,测量精度高2.可任意位置置零3.公英制转换特点4.数据输出功能5. 便携式设计,携带更方
产品简介:产品描述:应用范围主要适用于测定薄膜、薄片等材料的厚度。√技术特征1.测量范围宽,测量精度高2.可任意位置置零3.公英制转换特点4.数据输出功能5. 便携式设计,携带更方便√技术参数1.测量范围:(0-25)mm2.分辨率:0.001mm 3.电源:氧化银电池SR44 4.工作温度:0℃~+40℃ 5.储运温度:-20~+70℃6.相对湿度:≤80% 技术参数: 泰亚赛福作为众多知名品Pai的合作伙伴,以优的价格+完善的售后服务体系向您提供产品。“服务、质量、价格”!
1、通化电镀层测厚仪 cm-8821涂层测厚仪
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2、通化电镀层测厚仪 cm-8821涂层测厚仪 多种型号图片
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$n $n型号:RL192307LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 | $n型号:RL192457LYT-2008涂层测厚仪 | $n型号:RL192471BMH-J3测厚仪 | $n
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3、通化电镀层测厚仪 cm-8821涂层测厚仪 多种型号内容
型号:RL192307LEPTOSKOP2042涂层测厚仪
产品描述:LEPTOSKOP2042涂层测厚仪简介:
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪具有JZ的测量技术和简单的操作方法,是的涂层测厚仪。通过解锁代码,可以使仪器在现场迅速的升级。
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚。
仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求。
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。
彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
LEPTOSKOP2042技术参数:
数据传输接口RS232 或 USB
电源:电池、充电电池、USB或外接电源
测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
测量速度: 每秒测量2个数值
存储: 多 9999 个数值,140个文件
误差:
涂层厚度 < 100 um: 1% 读数 +/- 1 um (校准后)
涂层厚度 > 100 um: 1-3% 读数 +/- 1 um
涂层厚度 > 1000 um: 3-5% 读数 +/- 10 um
涂层厚度 > 10000 um: 5% 读数 +/- 100 um
技术参数: ◆ 数据传输接口RS232 或 USB
◆ 电源:电池、充电电池、USB或外接电源
◆ 测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
◆ 测量速度: 每秒测量2个数值
◆ 存储: 多 9999 个数值,140个文件
◆ 误差:
涂层厚度 < 100 um: 1% 读数 +/- 1 um (校准后)
涂层厚度 > 100 um: 1-3% 读数 +/- 1 um
涂层厚度 > 1000 um: 3-5% 读数 +/- 10 um
涂层厚度 > 10000 um: 5% 读数 +/- 100 um
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪附件:
试块和膜片
探头定位装置 (适用于微型探头)
定位辅助装置 (适用于微型探头)
电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理
电脑软件 EasyExport 用于把单独的读数或全部文件传输到Windows
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涂层测厚仪
来源网址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-192307-pid-7261.html
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪
型号:RL192457LYT-2008涂层测厚仪
产品描述:便携设计,手掌大小
采用高速的DSP芯片,具有快速的测量能力
人性化设计,简单操作。
两种校准方式:零点校准和二点校准
宽角度LCD液晶显示
公制和英制单位转换
具有电源欠电压提示
操作过程有蜂鸣声提示
具有自动关机功能
技术参数: ● 测量范围:0-1200um
● 工作电源:两节五号电池
● 分辨率:0.1um/1um(100um以下为0.1um)
● 测量精度误差:零点校准 ±(1.5+3%H);二点校准±【(1%~3%H)】H+1.5
● 公英制转换:um/mil转换
● 环境温度:-10-40℃
● 相对湿度:≤85%
● 小基体:10*10mm
● 小曲率:凸5mm;凹5mm
● 薄基体:0.4mm
● 重量:99克(含电池)
● 尺寸:102mm*66mm*24mm
技术参数:● 测量范围:0-1200um
● 工作电源:两节五号电池
● 分辨率:0.1um/1um(100um以下为0.1um)
● 测量精度误差:零点校准 ±(1.5+3%H);二点校准±【(1%~3%H)】H+1.5
● 公英制转换:um/mil转换
● 环境温度:-10-40℃
● 相对湿度:≤85%
● 小基体:10*10mm
● 小曲率:凸5mm;凹5mm
● 薄基体:0.4mm
● 重量:99克(含电池)
● 尺寸:102mm*66mm*24mm
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涂层测厚仪
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LYT-2008涂层测厚仪
型号:RL192471BMH-J3测厚仪
产品描述:应用范围
主要适用于测定薄膜、薄片等材料的厚度。
√技术特征
1.测量范围宽,测量精度高
2.可任意位置置零
3.公英制转换特点
4.数据输出功能
5. 便携式设计,携带更方便
√技术参数
1.测量范围:(0-25)mm
2.分辨率:0.001mm
3.电源:氧化银电池SR44
4.工作温度:0℃~+40℃
5.储运温度:-20~+70℃
6.相对湿度:≤80%
技术参数:
泰亚赛福作为众多知名品Pai的合作伙伴,以优的价格+完善的售后服务体系向您提供产品。“服务、质量、价格”! 栏目页面:http://www.runlian365.com/chanpin/7261.html
涂层测厚仪
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BMH-J3测厚仪
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