镀金，镀银，镀铜，镀镍层测厚仪

Thick 800A 电镀镀层测厚仪是天瑞仪器专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要测试镀金，镀银，镀铜，镀镍，镀铑等，主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

 产品介绍

Thick 800A 电镀镀层测厚仪是天瑞仪器专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要测试镀金，镀银，镀铜，镀镍，镀铑等，主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

详细资料

Thick 800A 镀层测厚仪

1、仪器概述

Thick 800A 镀银层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

2、性能优势

精密的三维移动平台
的样品观测系统
先进的图像识别 
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
双重保护措施，实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位 
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样 
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦 
直接点击全景或局部景图像选取测试点 
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果

3、技术指标

分析元素范围：从硫（S）到铀（U） 
同时检测元素：Z多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，Z薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低至135eV
采用先进的微孔准直技术，Z小孔径达0.1mm，Z小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 ：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度 15℃～30℃

Thick800A镀镍层测厚仪是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款金属镀层测厚仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大表面处理电镀厚度检测仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

X荧光镀层测厚仪是一款快速、无损、准确检测镀层厚度新型高端仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首 饰的含量检测，可以检测如镀金、镀镍、镀铜、镀铬、镍锌、镀银、镀钯等，Z多一次分析五层。 分析元素范围：从硫（S）到铀（U） 同时检测元素：Z多24个元素，多达五层镀层 检出限：可达2ppm，Z薄可测试0.005μm 分析含量：一般为2ppm到99.9% 镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1% 稳定性：可达0.1% SDD探测器：分辨率低至135eV 采用先进的微孔准直技术，Z小孔径达0.1mm，Z小光斑达0.1mm 样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头 准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 Ф0.3mm四种准直器组合 仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm 样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm 样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s X/Y/Z平台重复定位精度 ：小于0.1um 操作环境湿度：≤90% 操作环境温度 15℃～30℃。

江苏天瑞仪器股份有限公司是专业生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售一体型企业。 2011年1月25日，天瑞仪器在深圳创业板块上市。股票代码为300165。分析仪器行业的家也是目前WY一家上市公司。公司拥有国际的X荧光分析 技术领域的专家队伍，具有雄厚的资金势力、的技术水平、服务标准和先进的管理模式。同时，公司与国内外相关领域的专业研究院所和企业保持着密切的 合作关系，实时追踪国际X荧光分析领域Z前沿的理论和技术。目前公司已被授予“国家民营科技企业”、“江苏省高新技术企业”、“苏州市分析仪器工程技 术研究ZX”、 “江苏省昆山市企业技术ZX”