是否提供加工定制 | 否 | 品Pai | Henergysolar |
型号 | HS-OCT-2000 | 类型 | 三元素分析仪器 |
测试范围 | 1.0X1016cm- | 测量时间 | 0.2~2.5 cm/s |
测量精度 | ±0.01 cm-1 | 电源电压 | 220/50(V\HZ) |
适用范围 | 硅材料氧碳检测 | | |
产品特点:1)适合于硅材料的氧、碳含量的测定;2)可实现硅料中氧碳含量自动、快速、准确的测量;3)具备完整的谱图采集、光谱转换、光谱处理、光谱分析及输出功能,使得操作更简单、方便、灵活。4)全密封防潮、防尘干涉仪的设计使仪器对环境的适应能力更强。5)外置式红外光源部件的设计使得仪器具有更高的热学稳定性,无须动态调整就具有稳定的干涉度。6)高强度红外光源采用球形反射装置,可获得均匀、稳定的红外辐射。7)程控增益放大电路、高精度A/D转换电路的设计及嵌入式微机的应用,提高了仪器的精度及可靠性;8)光谱仪与计算机间通过USB方式进行控制和数据通讯,完全实现即插即用。9)通用微机系统,全中文应用软件界面友好、内容丰富。10)专用样品固定架;11)高稳定性和抗震性;12)保质期:12个月。技术参数:1)检测下限:1.0X1016cm-3(常温);2)检测硅料硅片厚度范围为:0.1~3.5mm;3)波数范围:7800cm-1~400cm-14)分辨率:优于0.5 cm-15)波数精度:±0.01 cm-1(1) CZ-Si(直拉硅)中氧含量精密度为±10%。(2) FZ-Si(区熔硅)中氧含量精密度为±20%,检测下限为1×1016cm-3。符合“硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法”国家标准(GB/T 1557-89)的要求。6)扫描速度:0.2~2.5 cm/s,微机控制,选择不同的扫描速度,档次连续可调。7)信噪比:优于15,000:1(RMS值,在2100 cm-1处,4 cm-1分辨率,DTGS探测器,1分钟数据采集。)8)分数器:KBr基片镀锗9)探测器:标准配置DTGS,任选MCT10)光源:高强度空气冷却红外光源数据系统:1)通用微机,连接喷墨或激光打印机,可输出高质量的光谱图。2)软件:全新中文MainFTOS软件:Windows9X/2000/XP操作系统下的通用操作软件系统。包括谱库检索软件、定量分析软件、谱图输出软件及专用红外谱库。仪器尺寸:1)光学台:63*52*24cm电源:1)交流:220V/50HZ2)功率:1000VA主要客户:锦州阳光能源、江苏天源、峨眉739、河北晶龙集团、无锡尚德、天津环欧等详情欢迎来电咨询:北京合能阳光新能源技术有限公司北京市通州区工业开发区光华路16号: -104:-608:肖经理 Email:公司网站:http://www.HenergySolar.com