北京时代TIME2510(TT210)覆层测厚仪是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。
产品简介北京时代TIME2510(TT210)覆层测厚仪是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。TIME2510(TT210)覆层测厚仪能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。TIME2510(TT210)覆层测厚仪符合以下标准: GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》 JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
产品相册
产品名称:TIME2510(TT210)覆层测厚仪
产品类别:北京时代仪器
产品特点:
TIME2510(TT210)覆层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。 全中文菜单自动识别金属底材
自动选择测量方法--磁性法或电涡流法
两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
五个统计量:平均值(MEAN)、值(MAX)、Z小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)
可采用两种方法对仪器进行校准
存贮功能:可存贮500 个测量值
删除功能:对测量的单个或所有数据进行删除
可设置限界:对限界外的测量值能自动报警
电源欠压指示
操作过程有蜂鸣声提示(单次测量方式)
错误提示功能,通过屏显或蜂鸣声进行错误提示
设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式
采用一体化测头
参数规格:
测量范围 | F400:0~400μm N400:0~400μm F1:0~1250μm F1/90:0~1250μm N1:0~1250μm F10:0~10000μm CN02:10~200μm |
测量精度 | F400、N400测头 一点校准:±(2%+0.7)二点校准:±(1%+0.7) F1、F1/90、N1、CN02测头 一点校准:±(2%+1) 二点校准:±(1%+1) F10测头 一点校准:±(2%+10) 二点校准:±(1%+10) |
校准方法 | 一点校准/二点校准/基本校准 |
显示分辨率 | 0.1μm(测量范围小于100μm) 1μm (测量范围大于100μm) |
重量 | 250g(包括电池组) |
工作环境 | 温度:0℃~50℃ 湿度:20%~90% |
工作方式 | 直接方式和成组方式 |
测量方式 | 连续测量/单次测量 |
关机方式 | 手动关机/自动关机 |
操作提示 | 音乐铃声,错误提示 |
信号处理 |
阈值限界 | 对限界外的测量值能自动报警 |
数据分析 | 可用直方图对一批测量值进行分析 |
统计量 | 平均值(MEAN)/标准偏差(S.DEV)/测试次数(No.)/测试值(MAX)/Z小测试值(MIN) |
存储 |
厚度值 | 500个数据 |
删除 | 单个可疑数据/组内所有数据 |
输入输出 |
打印 | 测量值、统计值、限界、直方图 |
通讯 | RS232/USB |
电源 |
电池 | 商业镍氢/碱性电池 9V |
电源监测 | 欠压指示 |
标配 | 主机 1台 测头(N1或F1) 1支 标准片 4片 基体 1块 9V碱性电池 1节 使用说明书 1本 |
选配 |
应用软件 | CTG Insight |
串口热敏打印 | |
测头 | F400 N400 F10 CN02 F1/90 |
配件:主机
z标准片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)
z铝基体
z充电器
产品选型:
TA230打印机
满足标准
本仪器具备在线数据统计及实时传输功能,可通过PC端将数据直接导出或者传输,进行实时监控等功能,直接方式下自动保留的100个测量值。
成组方式下测量值自动存入内存单元,一组Z多存100个数值,总共五组,可存500个数值。当每组存满100个值时,屏幕将显示“存储器满”,此时,仍可进行测量,但是测量值只显示不存储,也不参与统计计算。只有删除该组数据,才能保存新的测量值。
3.3.3修改组中的校准值删除组单元中的所有数据和校准值之后才能重新校准。否则将出现错误提示和鸣响报警。
3.4基本校准的修正 在下述情况下,改变基本校准是有必要的:
____测头顶端被磨损。
____特殊的用途。
在测量中,如果误差明显地超出给定范围,则应对测头的特性重新进行校准称为基本校准。通过输入 6个校准值(1个零和5个厚度值),可重新校准测头。
a)在仪器关闭的状态下按住“↑”键再按“ON/OFF”键,即进入基本校准状态;在仪器进入基本校准状态屏幕菜单区显示“基本校准”。
b)先校零值 (方法同3.3.1) 。可连续重复进行多次,以获得一个多次校准的平均值,这样做可以提高校准的准确性;
a)使用标准片校准,按厚度增加的顺序进行,一个厚度上可做多次。每个厚度应至少是上一个厚度的1.6 倍以上,理想的情况是2倍。
例如F1探头的校准:
首先选5个厚度的校准片分别约为:50μm、100μm、200μm、400μm、800μm。值应该接近但低于测头的测量范围。
按3.3.1的方法校零后,用厚度约为50μm的校准片在基体进行一次测量,屏幕显示<×××µm>。用“↑”或“↓”键修正读数,使其达到标准值。然后按顺序进行厚度约为100μm、200μm、400μm、800μm的校准片进行校准。
注意:1、即使显示结果与标准片值相符,按“↑” “↓”键也是必不可少的。
2、每个厚度应至少是上一个厚度的1.6 倍以上,否则视为基本校准失败。