COSMO 日本电测荧光X线膜厚计COSMO,荧光膜厚仪

品Pai	日本电测	型号	COSMO
测量范围	1	测量精度	1
分辨率	0。1	电源电压	220
用途	见资料

日本电测荧光X线膜厚计COSMOS-1XCOSMOS-1X規格表一.螢光X線控制部:1.X線源:油浸式1.2mA小型微小焦點X線管.50kV管電壓，可變管電壓。2.照射方式：由上而下垂直照射方式。3.檢出器：比例計數管。4.濾波器：採用Co和Ni雙濾波器及數位式濾波器，可單一或同時使用。5.準直儀：Collimator採用五種孔徑一體成型式，可自動切換使用。0.1,0.2,0.5,1.0,2.0ψ㎜.(選購)0.05×0.5,0.05,0.1,0.2,0.5ψ㎜.(選購)0.05,0.1,0.2,0.3,0.5ψ㎜.6.樣品觀測系統：彩色CCD及高畫質顯示幕。7.多能譜分析器：使用256高頻分析器，光譜自動分析，在執行測量及運算時，非常快速。二.電腦操作部:8.電腦系統：(※僅供參考)IBM相容中文個人電腦.CPU：IntelCeleron1GHz.RAM：128MB.FloppyDisk：3.5×1，40倍速CD-ROM×1.HardDisk：40GB.17"高畫質顯示幕.EPSON彩色噴墨式印表機。9.本機型(COSMOS-1X系列)之操作系統採中文視窗(Windows98)對話式操作，非常簡便。-1-三.特性說明:10.測量項目：單層膜厚測定.2層膜厚測定.3層膜厚測定.無電解鎳膜厚測定.合金膜厚成份比同時測定.元素的光譜峰值測定分析.11.測量材質：原子序22(Ti)~82(Pb)為激發法測量。原子序22以下為吸收法測量。12.測量範圍：原子序22~24，約0.2~20um.原子序25~40，約0.1~30um.原子序41~51，約0.2~70um.原子序52~82，約0.05~10um.13.測量機能：同一點重複測定機能輸出形式設定.能譜測定.14.測量條件或膜厚規格可以保存.當要測量相同的製品時，若測量條件已儲存，可以馬上進行測量。Z大檢量線檔案數：可登錄儲存100組檔案。Z大測量檔案數：可登錄儲存300組檔案。15.檔案記錄：每一個批號可儲存無限個測量資料.(因所使用的電腦之容量大小而定)每一個測量檔案可輸入及儲存公司名稱.每個批號可單獨執行統計處理.-2-每個測量檔案可輸入不同的檢量線(校正曲線).16.資料處理：統計值表示：平均值、標準偏差、Z大值、Z小值、上下限值範圍、Cp、Cpk。X-R管制圖.柱狀圖：有自動設定及自己任意設定二種方式。可彩色列印觀物顯示幕上所觀測之圖像。17.底材補正：當樣品與標準片的底材不同時，可作底材補正。18.觀物顯示幕：十字刻度線的高解析度彩色觀物顯示幕。四.安全裝置.19.本機俱有自動安全斷電系統功能.20.由鎖匙開關來控制X線輸出，以防止外人任意操作.五.其他機能.21.密碼辨識功能22.裝置維護調整.六.設備尺寸：23.測量部主機：尺寸：362(W)×425(D)×486(H)㎜.重量：約44.2Kg.24.操作部：(※僅供參考)電腦尺寸：180(W)×420(D)×360(H)㎜.重量：約8.8Kg.顯示幕尺寸：360(W)×420(D)×370(H)㎜.重量：約16.5Kg.印表機尺寸：500(W)×250(D)×300(H)㎜.重量：約4.3Kg.-七.X-Y-Z軸可移動式測量台.25.測量台尺寸及移動量.測量台尺寸170(W)×100(D)㎜移動量(X-Y-Z軸)70×70×50㎜.26.測量樣品限制.樣品限制高度：45㎜樣品限制重量：3Kg.捌.使用電源.27.電壓:AC100V±10V；50/60Hz(選購)AC110V，AC220V.28.容量:700VA