ZP124 X射线平板相机（劳厄相机）

加工定制	是	品Pai	辽东
型号	ZP124	测量范围	θ 10 °～ 60°、 2 θ 10 °～ 120 °
测量精度	1 ″	分辨率	1
电源电压	220V	用途	进行物质内部的结构分析。如：单晶定向（反射、透射），测定晶体的对称性，观察晶体的一般缺陷，拍摄板材棒材的织构相，精确测定点阵常数，测定残余应力等。

1.用途：X射线平板照相机，可以安装在国内外生产的各种类型的 X 射线机上，进行物质内部的结构分析。如：单晶定向（反射、透射），测定晶体的对称性，观察晶体的一般缺陷，拍摄板材棒材的织构相，精确测定点阵常数，测定残余应力等。因此，可广泛地应用于石油化工、冶金、机械、地质、纺织等工业部门、科研单位和大专院校。2.原理与结构：A.原理：由 X 射线管产生的 X 射线从相机的入射光阑射入，照射在被分析样品上，在满足布拉格公式： n λ =2dSin θ条件下，产生 X 射线衍射图像，这些图像记录在感光片上，然后对这些图像进行计算分析，可以了解物质内部结构。 B.结构： X 射线平板照相机，主要由背射相盒、透射相盒、旋转样品架、三圆测角晶台和机座五个部分组成。