电子薄膜应力分布测试仪 平整度及半导体基片测量仪
型号:BGS-6341
北京BGS-6341电子薄膜应力分布测试仪现货供应产品简介:生物标本安全转移箱
北京BGS-6341电子薄膜应力分布测试仪现货供应该产品主要应用在微电子、光电子生产线上和科研、教学等领域Si、Ge、GaAs等半导体基片及电子薄膜应力分布、光学零件面形和平整度面形、 基片曲率半径测量测试。该仪器总测量点数多,能给出全场面型分布结果制药级液体采样器 ,适合于微电子生产线上产品质量的快速检验和微电子生产工艺研究。
仪器基于干涉计量的全场测试原理,可实时观测面型的分布,迅速了解被测样品的形貌及应力集中位置,及时淘汰早期失效产品。
北京BGS-6341电子薄膜应力分布测试仪现货供应产品特点
国际SC的错位相移技术
计算机自动条纹处理
测试过程全自动
先进的曲面补偿测试原理
技术指标
样品尺寸:≤100mm (4英寸)
曲率范围:|R|≥5米
测试精度:5%
单片测量时间:3分钟/片
结果类型:面形、曲率半径、应力分布、公式表示、数据表格
图形显示功能:三维立体显示、二维伪彩色显示、单截面曲线显示
电 源:AC 220V±10%, 50Hz±5%
功耗:100W
外型尺寸:(L×W×H) 285mm×680mm×450mm
重 量:36kg