X荧光光谱仪 高灵敏度信号电子电路检测仪 贵金属测试仪
型号:JC15- EDX860D
仪器介绍
本仪器专门针对贵金属测试,可测试环形样品内壁及普通平面测试,具有以下特点:体积小巧,外型庄重大方,
手动升降平台满足不同大小样品的测试,样品固定方便快捷,可方便更换准直器,准直器直径为1.5mm,可测试
较小区域,下照式,大窗口正比计数盒保证计数率满足分析需要,宽阔样品腔可满足较大样品的测试,摄像头
激光精确定位实现可视化定位,良好的射线屏蔽确保操作人员。
性能特点
1.大功率光管;
2. 超大窗口面积正比计数盒;
3. 外型小巧,庄重大方;
4. 宽阔样品腔,方便操作及测试较大样品;
5. 手动升降平台确保测试不同大小环状样品;
7.小准直器,利于测试样品小区域;
8. 摄像头与激光定位,可视地准确定位到被测点,测试时激光点自动关闭,利于拍摄清晰照片;
9. 良好的射线屏蔽确保操作人员的安全。
技术指标
分析含量一般为1ppm到99.9%;
任意多个可选择的分析和识别模型;
相互独立的基体效应校正模型;
多变量非线性回归程序;
多次测量重复性可达0.1%;
长期工作稳定性为0.1%。
电源:交流220V±5V;
测量时间:60-200S
管压:5-50KV
管流:50-1000μA
温度适应范围:15℃-30℃
标准配置
正比计数盒;
50W X光管;
高压电源 50kV@1mA;
摄像头激光定位装置;
高灵敏度信号检测电子电路;
手动升降平台;
样品夹;
橡皮泥;
准直器直径为1.5 mm。
应用领域
首饰加工厂
金银珠宝首饰店
贵金属冶炼厂