G200M激光平面干涉仪为正立式结构,通光口径为200mm。 G200M弥补了国内使用有效口径150mm的干涉仪测试大尺寸光学系统和光学元件不能全口径 测试的不足,改善提高了大口径光学系统和光学元件测试精度。
◇200mm
◇ 结构灵活:立式和卧式两种结构。立式适合测量光学元件,卧式适合测试光学系统;
◇ 调整方便:通过切换开关选择对准与干涉场两种显示模式,方便调整;
◇ 条纹真实:优良的光学设计,精密的系统装保证得到清晰、准确、真实的干涉条纹;
◇ 性能优良:仪器具备良好的隔振性能,适合光学加工现场使用;
◇ 配件丰富:选配密封罩,可将测试腔与外界气流隔离,降低测试过程中气流扰动,提高判断的准确性。选配衰减过滤片,可以测量镀高反膜元件。
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