徕卡DM4 M清洁度检测显微镜是德国徕卡清洁度检测的型号,适用于检测2微米及以上颗粒,自动扫描整张滤膜,自动区分金属非金属,自动计数,颗粒高度测量。徕卡DM4 M是一款研究级半自动显微镜,拥有超高的检测精度和重现性,可以一机多用,程度提升设备使用效率,是汽车行业零部件清洁度检测的选择。
汽车零部件清洁度检测|清洁度检测仪|清洁度检测 Leica DM4M
您可轻松调用之前的显微镜设置并通过独特的软件功能“保存和调用”(Store and Recall) 即时复制成像参数。适用于任何类型的样本。
一键式“智能自动化”可让您轻松搞定重复性工作。这些具有记忆功能的显微镜可帮您减少培训时间、改进工作流程和获得出色的成像结果 — 始终如一。
“可复制”意味着“可靠”在诸如钢铁夹杂物比例测定、粒子分析、相位或颗粒分析等应用中,可复制性至关重要。Leica DM4 M 和 Leica DM 6 M 显微镜系统值得您的信赖,获得可复制的结果。始终如一!
- 节省宝贵时间:凭借照明管理器 (Illumination Manager) 和相衬管理器 (Contrast Manager),显微镜能够自动识别所选的相衬方法和正在使用的物镜,准确打开和关闭孔径光阑和视场光阑,且调整光线强度。
- 共享和比较您的结果 — 随时随地!通过 Leica 显微镜副助手 (Leica Microscope Assistant,Leica LAS “保存和调用”模块) 保存和调用显微镜设置和摄像头参数。它们随图像一同保存和归档,并可随时恢复。
Leica DM4 M 可让您工作方便快捷:布局清晰的显示屏令所有显微镜设置一览无遗。六个功能键帮助轻松操作各种常用功能 — 无需从样品查找。
无忧照明!
LED 照明有助于结果的可复制 — 无论您以明场 (BF)、高动态暗场 (HDF)、微分干涉相衬 (DIC)、荧光 (FL) 还是偏振 (POL) 状态工作。
- 可在任何显微镜设置下以恒定的色彩温度查看您的样品:无需每次亮度改变时都重置摄像头或调节白平衡。
- 选择一种或多种可用的相衬观察方法,在样品上检测出更多的瑕疵和缺陷。
- 节省能源和成本:LED 照明可节省能源,使用寿命长达 25,000 小时,从而使因更换灯泡而导致的显微镜停机成为过去。
JZ细致!
凭借全自动微分干涉相衬 (DIC) 和 1.25 倍全景物镜,即使Z微小的细节也能检测到:
- 无需费力,轻松达成您的目标:只需按下一个按钮,Leica DM6 M 的所有系统组件 (例如检偏器、起偏镜和适当的棱镜) 便会自动移至光路径,同时每一个物镜的微调都得以保存。
- 1.25 倍全景物镜,呈现样品的概览。凭借 Leica DM4 M,以出色的景深JZ观察每一个细节。
清洁度检测
徕卡DM4M搭载全自动精密电动扫描台,以及清洁度检测专用软件,可用于检测2微米及以上颗粒,自动扫描整张滤膜,自动区分金属非金属,自动计数,颗粒高度测量。系统支持ISO16232,VDA19等各种国际标准,也可以用户自定义检测标准。
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自动扫描整张滤膜
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扫描过程中的滤膜成像 单个颗粒确认的图片
确认颗粒单个颗粒
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颗粒检测标准:ISO16232 颗粒检测标准:用户自定义
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颗粒平面尺寸的测量
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颗粒的高度对零部件的损害 颗粒高度尺寸的测量
汽车零部件清洁度检测|清洁度检测仪|清洁度检测 设备分类如下:
机型 | DM4 M /DM6 M | DM2700 M | DMS1000 / M80 /M165C |
行业标准 | ISO 16232 (VDA 19), ISO 4406,USP 788, 支持用户自定义 |
测量能力 | 5um | 25um |
金属非金属区分 | 自动区分 |
颗粒和纤维区分 | 自动区分 |
长度测量 | 自动测量 |
宽度测量 | 自动测量 |
高度测量 | 手动测量 | 不支持高度测量 |
颗粒限制 | 无限制,可以越过图像边界自动跟踪颗粒和纤维 |
颗粒数量 | 扫描过程中自动计数和更新 |
滤膜变形 | 根据滤膜表面的变形情况,自动调整镜头的高低 | 扫描过程中镜头固定 |
颗粒再定位 | 扫描结束后,可以对探测到的颗粒再定位,进行进一步的分析 |
测量报告 | 可以自定义报告模板 |