东京精密表面粗糙度测量机_详细资料

产品信息 是否提供加工定制：否品Pai：日本东京精密 型号： SURFCOM 130A 机型测量范围： 50m 规格： 130A SURFCOM 130A 操作简单，不需要操作手册可选择的“放大器”液晶触摸屏 =备有大画面TFT彩色和便宜的的黑白液晶。 便于携带的小尺寸 =可在在现场环境下使用。 分析参数与海外规格对应 =可任意选择JIS ISO DIN ASME CNOMO等规格 具有CE标志的安全设计 Z高等Z高等到直线度精度 0.3mm/50mm!! 仅显示必要的图标 采用个性化功能，可以只选择使用频度高的图标，自由进行图标配置，由此来制作操作者专用的菜单，可进行GX率的测量作业。 仅输入图纸上的数值即可进行测量的AI功能（已获得） 装载有AI功能，只需要输入加工图纸上的所记载的参数及容放值的条件，便可以自动选择的取样长度、测量范围等测量条件来进行测量 显示测量步骤的引导功能 此功能可显示测量程序，以便使初次使用测量机的人也能顺利进行操作。 用于数据整理的便利的记录功能 用触摸笔可以把记录画面上书写的简单图形、文字如实地记录并打印到记录纸上。 满足各种需求的多种多样分析功能 装载有Ra、Rz、Ry、Sm、 S、tp等共34种粗糙度、32种波纹度的分析参数。 可能进行电气零部件的段差、膜厚以及面积等的分析。 倾斜补偿功能 装载有直线、前半、后半、两端、R面、花键曲线（已获得等6种自动倾斜补偿功能。 评价范围的任意设定（已获得） 用2条光标选择画面上的波形数据由2，可设定任意的主价范围进行各参数的运算。 配备有PC卡插槽 可管理测量条件及测量结果，以二进制格式和文本格式输出测量数据。从电脑的PC卡插槽很容易读取。 型号 SURFCOM 130A 测量范围 X轴（横向） 50m Y轴（纵向） 800mm(测量范围/分辩率：800mm/10nm、80mm/1nm、8mm/0.1nm) 直线度精度 0.3mm/50mm 分析项目 使用规格 JIS-2001,JIS-1994,JIS-1982,ISO-1997,ISO-1984.DIN-1990,ASME-1995,CNOMO规格 参数 Ra,Rq,Ry,Rp,Rv,Rc,Rz,Rmax.Rt,Rz.J.R3z.Sm.S.R△q.Rla.Rlq. TLL T A. lr.Pc.Rsk.Rku.Rk.Rpk.Rvk.Mr1.Mr2.Vo.K.tp.Rmr.tp2.Rmr2.Rdc AVH.Hmax.Hmin.AREA.NCRX.R.Rx.AR.NR.CPM.SR.SAR 评价曲线 剖面曲线、粗糙度曲线、滤波波纹度曲线、滤波ZX线波纹度曲线、滚动圆波纹度曲线、滚动圆ZX线波纹度曲线、DIN4776特殊曲线、粗糙度ZX曲线（Motif）、波纹度ZX曲线（Motif）、包络波纹度曲线 表面特性图表 负荷曲线、功率谱曲线图、振幅分布曲线 倾斜补偿方式 直线补偿、R面补偿、前半补偿、后半补偿、两端补偿、花键补偿、（直线、R面、两端补偿可以在任意范围内） 倍率 纵倍率（Z轴） 50、100、200、500、1K、2K、5K、10K、100K、200K*、500K*倍、自动 横倍（X轴） 1、2、5、10、20、50、100、200、500、1K、2K、自动 滤波器的种类 标准型滤波器2RC、相位补偿型滤波器2RC、相位补偿型滤波器（高斯滤波器） 测量速度 0.3、0.6、1..5 3mm/s(4速) 传感器 前端半径2mm、材质为金刚石、测量力为0.75mN 先进的功能 测量AI 装载有测量AI功能、即使初学者也可容易掌握 段差分析功能 适于测量半导体零部件的膜厚及面积 PC卡 输出文本文件、将数据传送至电脑 标准配件 标准片E-MC-S24B、记录纸（E-CH-S21A）、触摸笔（E-MA-S54A）操作说明书 各要素 电源 AC100~240V±10%、50/60Hz、30VA 设置尺寸 700（W）*300（D）*150（H）mm 质量 8Kg

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是否提供加工定制：	否	品Pai：	日本东京精密
型号：	SURFCOM 130A 机型	测量范围：	50m
规格：	130A