膜厚计日本KETT LE-200J 涂层测厚仪

 日本KETT LE-200J 涂层测厚仪 膜厚计

                                                                                                 特点：　　本仪器采用了磁性测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。

LE-200J测定方法电磁式测定对象磁性金属上非磁性涂镀层测定范围0～1500um或0～60.0mils测定精度<15um±0.3um   >15um±2%分辨率<100um 0.1um    >100um 1um界限设定可设定上/下限数值测试单位公/英制互换显示方式LCD数显操作面板密封防水按键附属品铁基体/校正标准片/电池/皮套/说明书电源DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个体积80(W)×80(D)×30(H)重量1100g                                                                                                                                         深圳市欧野电子有限公司供应