上海光学 15JF数显测量显微镜 带上下光源 数显大屏工具显微镜

5JF测量显微镜（数显型）

仪器用途：

15JF测量显微镜（数显型）是光学计量仪器之一种，它的结构简单，采用3”TFT显示屏直读，操作方便，适用范围极广，主要用途如下：

1. 直角坐标中测定长度，例如测定孔距，基面距离，刻线宽度，键槽宽度，狭缝宽度，通孔外圆直径等等。

2. 转动度盘测定角度，例如对刻度盘、样板、量规、钻孔模块及几何形状复杂的零件进行角度测量。

3. 用作观察显微镜，以比较法检查工作表面光洁度，鉴定冶金工业的矿石标本。鉴定印刷照相制版，检验纺织纤维等等。

仪器规格： 

测量工作台读数装置主要规格：

采用LED上下可调光源，X、Y测量结果均采用3”TFT显示屏直读，公英制转换

X轴测量范围：50mm

Y轴测量范围：13mm

数显分辨率：0.0001mm

测量台转动范围：不限

测量台刻度盘分度范围：0° ~ 360 °

测量台刻度盘之分度值：1°

测量台刻度盘游标读数示值：6′

测量地点温度：（20°C±3°C）

测量精度：仪器准确度误差±(5+L/15)μm

注：L—被测件长度（mm）

主要尺寸：

测量台与物镜之间距离：80mm

测量工作台直径：120mm

仪器外形尺寸（长×宽×高）：262×220×425mm

仪器重量：约11kg