硅材料测试仪-四探针法测试台 探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.硅材料测试仪-四探针法测试台
硅材料测试仪-四探针法测试台
采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;
硅材料测试仪-四探针法测试台 参数资料
1.方块电阻范围:10-2~2×105Ω/□
2.电阻率范围:10-3~2×106Ω-cm
3.测试电流范围:0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
4.电流精度:±0.3%读数
5.电阻精度:≤0.5%
ROOKO/瑞柯品Pai,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业.
专业与精致并重;与智慧之原