加工定制:是 | 品Pai:TRUST | 型号:TS-SS-P |
类型:教学仪器 | 材质:如图 | 测量范围:如图 |
适用范围:如图 | | |
剪切电子散斑干涉术是一种测量离面位移导数(derivative)场的激光干涉测量新技术。它除了电子散斑干涉术(electronic speckle pattern interferometry)的许多优点外,还有光路(optical path)简单,对测量环境要求低等特点。由于剪切电子散斑干涉是测量位移导数,因此,在自动消除刚体(rigid body)位移的同时对于缺陷受载的应变集中十分灵敏,因此被广泛地应用于无损检测(NDT, nondestructive testing)领域。该仪器使用大功率绿色半导体激光器作光源,具有电子散斑条纹实时处理软件,操作方便,便于携带,可用于现场测量。采用相移技术分析条纹,可获得离面位移导数场的全场数据。★ 光源:半导体激光器,功率50mW,波长532nm★ 定焦镜头:AF尼克尔50mmf11.8D★相机:1394数字摄像头★剪切量:连续可调★ 软件:条纹实时显示,相移处理★ 演示试件:圆形测试座加载架。★ 工作距离:400~1200mm★ 尺寸:182mm(长)×88mm(宽)×329mm(高)