X射线衍射仪可在大气中无损分析样品,进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且,可通过峰面积计算进行定量分析。 可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精密X射线结构解析等各种分析。
X射线衍射仪参数:
X射线发生部:2KW或3KW(CUP控制)
测角仪:θs/ θd联动,θs、θd独立
扫描范围:-12°~164°(2θ),-6°~82°(θs), -6°~132°(θd)
选配件:大型R-θ样品台,多毛细管平行光学系统
X射线衍射仪简介:
| X射线衍射仪配备具有0.0001°Z小步进的高精度样品水平型测角仪。根据分析目的,可以选择适合分析大型样品的L型(350mmφ样品)和通用的S型。高精度样品水平型测角仪S |
· XRD-7000系列配备了样品水平型测角仪,能够测定超大型样品。
· 不但可进行定性/定量等基本分析,还可以应用于残留奥氏体定量、环境定量、晶格常数的精密化、结晶度的计算、晶体粒径和晶格应力的计算、晶系确定、Rietveid结构解析软件进行的晶体结构解析。通过追加附件,还可以应用于应力测定、样品加热过程的分析、薄膜样品测定等。
· 利用新开发的大型R-θ样品台,可以进行350mmφ样品全表面的自动应力成图测定。 | |
· 采用强大的多毛细管平行光束系统,可对应凹凸不同的样品的分析,扩大应用范围。
使用多毛细管平行光束系统的测定实例
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