平行平晶是用于以干涉法测量块规,以及检验块规、量规、零件密封面、测量仪器及测 平晶量工具量面的研合性和平面度的 常用工具。 适用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、阀门密封面现场检测使用,也适用于高等院校、科学研究等单位做平面度等检测
平行平晶/平面平晶有两个(或一个)光学测量平面的正圆柱形或长方形的量规。光学测量平面是表面粗糙度数值和平面度误差都极小的玻璃平面,它能够产生光波干涉条纹(见激光测长技术)。平晶有平面平晶和平行平晶两种。平面平晶用于测量高光洁表面的平面度误差,为用平面平晶检验量块测量面的平面度误差。平行平晶的两个光学测量平面是相互平行的,用于测量两高光洁表面的平行度误差,例如千分尺两测量面的平行度误差.平晶用光学玻璃或石英玻璃制造。
产品名称 | 规格 | 级别 | 精度 |
平面平晶 | φ30 | 一级 | 0.03μm |
φ45 | 一级 | 0.03μm |
φ60 | 一级 | 0.03μm |
φ80 | 一级 | 0.05μm |
φ100 | 一级 | 0.05μm |
φ150 | 一级 | 0.05μm |
φ200 | 一级 | 0.1μm |
φ250 | 一级 | 0.1μm |
φ300 | 一级 | 0.1μm |
φ500 | 二级 | 0.1μm |
平行平晶 | 0-25 | 一级 | |