EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(Si-PIN检测器)检测器,因此在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。
EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(Si-PIN检测器)检测器,因此在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成,所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外,Z近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析,该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为ZG版RoHS第二阶段应对手段。
筛选分析的简单设定 根据材质和元素设定阈值。根据阈值的输入方法来变更筛选分析的判定方式。阈值设定可依据根据材质的不同所显示的阈值下限。
在分析报告中如何表示分析结果“低于阈值”“灰色区域”“阈值范围内”,也可自定义设置。 分析报告的模版也可以设定。可在随机附带的模版中选择。 条件保护功能 通过输入密码可变更筛选分析条件和环境设定等各类设定条件,从而提高软件操作的安全性和保密性。
操作简便,一个指令即可开始全自动测定。 测定条件的选择过去一直依赖操作者的判断,现在改由装置自动判断,即使初学者也可简便·高精度地测定。
只需1次点击,便可根据预先登录的分析条件, 自动执行从测定到结果的一系列操作。
测定异物或者测定包含多个部位的样品时,通过样品图像观察组件在观察样品的同时,可以简单的设定分析位置。测定小样品或样品中特定位置时,可以使用准直器,更改X射线照射区域。 (3, 5, 10 mmφ)
形状校正功能
采用超大样品室
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