金埃谱科技作为国内率先推出,并WY集完全自动化、智能化、高精度、高稳定性及高性价比于一体的比表面及孔径分析设备供应商,推出的F-Sorb X400(动态法)及V-Sorb X800 Series(静态法)两大系列产品,不仅完全遵循国家标准及国际标准,而且创建了国内Z为齐全、完善的比表面及孔径分析仪产品线,可满足不同层次用户的需求。公司拥有国内众多科研院校及世界500强企业的成功应用案例,2008年、2009年、2010年和2011年连续4年国内市场销量.
全自动比表面积及孔容积分析仪性能参数
比表面积及孔容积分析仪测试方法及功能:氮吸附静态容量法,吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔隙分布分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t-plot图法外比表面积测定;
比表面积及孔容积分析仪测试模式:V-Sorb的集成“单一氮气测试模式”和“氮气+氦气标准测试模式”于一体,供客户根据实际需要选择使用;采用“氮气+氦气标准测试模式”,符合国际标准,可确保结果的准确性和一致性,且操作简单;对于低温下可吸附氦气的样品,不适宜采用氦气测定自由空间,可通过采用“单一氮气测试模式”获得理想的测试结果.
比表面积及孔容积分析仪测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积),0.35nm-2nm(微孔)、2nm-500nm(中孔或介孔);
比表面积及孔容积分析仪测量精度:重复性误差小于1.5%;
比表面积及孔容积分析仪真空系统:V-Sorb的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔隙分布测定的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命;
比表面积及孔容积分析仪液位控制:V-Sorb的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;
比表面积及孔容积分析仪控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命;
比表面积及孔容积分析仪样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理;
比表面积及孔容积分析仪压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000Torr(0-133Kpa),0-10Torr(0-1.33Kpa);
比表面积及孔容积分析仪压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15%,优于全量程的0.15%,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15%);
比表面积及孔容积分析仪真空泵:真空泵内置仪器中,且通过软件根据实验需要自动控制真空泵启停,从而延长真空泵的寿命.
比表面积及孔容积分析仪分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10-6-0.995;
比表面积及孔容积分析仪极限真空:4x10-2Pa(3x10-4Torr);
比表面积及孔容积分析仪样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等;
比表面积及孔容积分析仪测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr)
比表面积及孔容积分析仪标定气体:具备可选择使用He气(99.999%)进行冷自由空间体积标定的功能,不能仅仅只具备采用"氮气+空管"模式标定冷自由空间
比表面积及孔容积分析仪数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强;
比表面积及孔容积分析仪数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表.