产品名称:Panametrics(泛美) 38DL PLUS OLYMPUS超声波测厚仪产品型号:Panametrics(泛美) 38DL PLUS OLYMPUS关 键 词:超声波测厚仪、测厚仪、手持式测厚仪
PLUS测厚仪简介
PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可地适用于几乎所有超声测厚应用,而且与所有双晶和单晶探头完全兼容。功能齐全的38DL
PLUS测厚仪可用于各种应用,包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量,以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其精确的壁厚测量。
测厚仪特点
显示:彩色透反VGA显示液晶显示,显示屏尺寸:56.16毫米 X 74.88毫米
检波全波:RF波、正半波、负半波
输入/输出:USB1.0从接口。RS-232有。
存储卡容量:2 GB外置MicroSD存储卡。视频输出VGA输出标准。
内置数据记录器:数据记录器38DL PLUS通过标准RS-232串口或USB端口识别、存储、回放、清除、传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。容量475000个厚度测量读数,或20000个带厚度值的波形文件名称、ID编码及注释32位字符的文件名,20位字符的字母数字位码,每个位有四个注释。文件结构9个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构。
报告机载:报告总结了数据统计、带有位置信息的Z小值/值、Z小值回顾、文件比较及报警报告。
技术规格
测量
双晶探头测量模式从激励脉冲后的精确延时到个回波之间的时间间隔。
穿透涂层测量模式利用单个底面回波(使用D7906-SM和D7908探头),测量金属的实际厚度和涂层厚度。
穿透漆层回波到回波测量模式在两个连续底面回波之间的时间间隔,不计漆层或涂层的厚度。
单晶探头测量模式模式1:激励脉冲与个底面回波之间的时间间隔。
模式2:延迟线回波与个底面回波之间的时间间隔(使用延迟线式或水浸式探头)。
模式3:在激励脉冲之后,位于个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔(使用延迟线式或水浸式探头)。
氧化层模式:可选。
多层模式:可选。
厚度范围:0.080毫米~635.00毫米,视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。
材料声速范围:0.508 mm/μs~13.998 mm/μs
分辨率(可选择)低分辨率:0.1毫米
标准分辨率:0.01毫米
高分辨率(可选项):0.001毫米
探头频率范围标准:2.0 MHz~30 MHz(-3 dB)
高穿透(可选项):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB)
一般规格
工作温度范围-10°C~50°C键区密封、以色彩区分功能的键盘,带有触感及声音反馈。机壳防撞击、防水、装有密封垫的机壳;机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。
锂离子电池供电时间工作时间:Z少12.6小时,一般14小时,Z多14.7小时。
电源AC/DC适配器:24V锂离子电池,23.760 Wh;或4节AA辅助电池。
外型尺寸:(宽 x 高 x 厚)总体尺寸:125毫米x211毫米x46毫米
快速充电:2小时到3小时。标准设计符合EN15317标准。
重量:0.814公斤
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