超声波测厚仪功能介绍
Panametrics® MG2-DL是MG2系列测厚仪中进的一款仪器。
该仪器不仅具有Panametrics MG2XT型仪器的所有功能,还装有一个基于文件的通用的字母数字数据记录器,可存储增量、顺序、两维及Boiler格式的文件。
使用可选的GageView™ Pro接口程序,可以在计算机和测厚仪之间双向传输数据。
参数
规格 | MG2-DL |
显示屏 | 液晶显示(带背光) |
测量范围 | 0.5---635mm |
显示精度 | 0.1/0.01mm |
冻结模式 | 有 |
显示保留/空白 | 有 |
/Z小值 | 有 |
探头自动识别 | 有 |
零位补偿 | 有 |
测量速度 | 2点/秒;20点/秒 |
工作温度 | -10-50℃ |
测量温度 | -20-500℃ |
增益调整 | 有 |
自动增益优化 | 有 |
回波回波 | 有 |
差分测量 | 有 |
穿透涂层 | 有 |
高低报警 | 有 |
数据存储 | 有(5000个厚度值) |
USB接口 | 有 |
声速范围 | 0.762-13,999mm/μsec |
电池 | AA 电池×3 工作125小时 |
外型尺寸 | 84 X 152.4 X 39.6mm |
重量 | 0.34Kg |
超声波测厚仪特点描述
¬ MG2-DL袖珍轻便:手持式测厚仪,小巧轻便,可放置于工具箱或口袋中。它们是快速测量材料中难于接触到的区域的理想的测厚仪。
¬ MG2-DL的彩色键盘:操作简易省时,可以直接访问许多重要的测量功能。按键根据不同的功能被分组、标色,便于用户对按键的识别。
¬ MG2-DL宽屏背光液晶显示屏:显示屏的大数字字符便于阅读厚度测量读数。此外,如使用场致发光的背光显示,屏幕内容无论在暗处还是阳光下都会清晰可见。
¬ MG2-DL从工件的一侧测量:超声测厚仪从材料的一侧发射声波,无需切开材料被腐蚀的部分,即可进行数字化测量。
¬ MG2-XT型仪器和MG2-DL型仪器都配备有Olympus® THRU-COAT®(穿透镀层)功能、B扫描,及带有波形调节的可选实时A扫描。