安捷伦 4287A 适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量速度非常快。此外,在小测试电流(100mA)处优良的测试重复性还可以显著提高生产率,因为所需的取平均过程非常短。系统组建简单
1MHz~3GHz,以10kHz分档 阻抗测量范围宽,从200mΩ到3kΩ 在低试信号电平上具有优良的测量重复性 基本精度为1% 高速测量:10ms 安捷伦 4287A射频LCR测试仪在1 MHz~3 GHz频率范围可以提供精确、可靠和快速测量,以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反射测量技术不同,采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行精确测量。生产率高、质量可靠
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