电子电路驱动微扫描器,样品固定在微扫描台上随扫描台在xy平面内扫描,在z方向进行精密移动,由光纤探针和石英音叉构成的光学探针由微动电机驱动,进行粗逼近。石英音叉传感器检测光纤探针与样品之间的剪切力,通过电子学反馈控制系统反馈给扫描平台,使探针与样品之间的间距保持恒定在纳米量级。由光电探测器探测光纤接收或出射端的光强, 获得样品表面形貌和近场光能量分布。
功能和应用范围
透射方式:
对透明薄膜样品,照明光源经物镜聚焦在样品表面,光探针在薄膜的另一面表面扫描,由探针接收样品表面散射光,获得近场图像。采用长焦距物镜使物镜焦点能够到达并照明厚样品的表面。物镜在三维空间可调。
反射方式:
对不透明样品可以改变仪器光路和探测器位置实现反射式测量。需另外增加接收探头。
提供windows系统下的应用程序。可以同时获取光学图像和形貌图像的,提供一至两个附加的采样通道和相应的图像显示存储功能。提供图像数据与标准图像格式的转换。提供伪3维图像显示,FFT滤波、平面校正、曲面校正功能。
技术指标
1. x-y线性扫描范围20um×20um;可扩展到30 um×30 um。
2. 扫描台在z方向的线性移动范围 3um,可扩展;
3. 光学分辨率: 50nm-100nm,取决于探针质量;
4. 光源波长: 530nm,650nm, 980nm可选;
5. 样品尺寸:小于 20mm×20mm;
6. 样品台水平移动范围 6mm×6mm;
7. 剪切力分辨率z: 1nm;x/y:10nm
8. z步进距离:小于200nm。