蔡司工业ct METROTOM 光学断层扫描仪采用计算机断层扫描技术,在不损伤被测物体的情况下,以二维断层摄影图像或三维立体图像的形式清晰、准确、直观地显示被测物体的内部结构、成分、材料和缺陷状态,Z小可检测缺陷为4.5微米。
1917年,奥地利数学家雷登(J. Radon)提出可通过从各方向的投影,并用数学方法计算出一幅二维或三维的重建图像的理论。后来,考迈克于1967年完成了CT图像重建相关的数学问题。亨斯菲尔德在英国EMI实验ZX进行了相关的计算机和重建技术的研究,重建出图像。1971年诞生了台CT装置。
CT是用X射线束对一定厚度的层面进行扫描,由探测器接受透过该层面的X射线,转变为可见光后,由光电转换变为电信号,再经模拟/数字转换器转为数字,输入计算机处理。对于材料学领域,CT的成像原理是根据待测样品内部不同相和成分的密度以及原子系数的不同,对X射线的吸收能力有强有弱从而造成成像的明暗差别,进行不同组分的分析。CT机结构包括X射线发生部分(高压发生器、X线管、冷却系统、准直器和楔形滤过器/板)、X线检测部分(探测器,模数、数模转换器)、机械运动部分(扫描机架、滑环)、计算机部分(主机及阵列处理器)及图像显示和存储部分(监视器、存储器)、工作站等。
常熟蔡司工业CT用一次扫描替换多次检查
3D断层摄影的一个重要优势是它能够取代多次复杂的单独检查。只需一次扫描
就可以检查尺寸变化、不连续性、夹杂物和各种变形。几秒钟的循环时间是可
能的。还有一个额外的好处:结果会被蔡司VoluMax自动记录下来
常熟蔡司工业CT蔡司ct断层扫描仪检测系统价格蔡司电脑软件:从数据生成到过程监控
有了蔡司软件,您可以GX地使用蔡司VoluMax,限度地利用潜力。用户界
面(ZEISS METROTOM操作系统)已被简化,因此经过培训的生产工人可以轻松、
安全地操作电脑系统。蔡司卡吕普索和蔡司计算机断层显像软件可用于计算机
断层数据的计量评估。可以使用ZEISS PiWeb质量数据系统进一步处理结果。
常熟蔡司工业CT:被测零件在放到工作台上检测之前,应先清洗去毛刺,防止在加工完成后零件表面残留的冷却液及加工残留物影响测量机的测量精度及测尖使用寿命。
蔡司工业ct METROTOM 光学断层扫描仪CT扫描即三维X射线扫描是以非破坏性X射线透视技术(简称CT),将待测物体做360°自转,通过单一轴面的射线穿透被测物体,根据被测物体各部分对射线的吸收与透射率不同,收集每个角度的穿透图像,之后利用电脑运算重构出待测物体的实体图像。