工业ct 蔡司ZEISS METROTOM工业CT断层扫描测量机

蔡司ZEISS METROTOM工业CT断层扫描测量机由于系统设计应尽可能紧凑，来获取更高的射线利用率和更佳的图像质量，因此必须结合不同的工件尺寸来考虑机器的尺寸。零件尺寸不外乎三种情形：小、大或是两者兼有。

密度分辨率 - 探测器的密度分辨率，或成为动态特性，是除了像素尺寸以外的另一个十分重要的参数，尤其是对于材料缺陷检测这类应用。[3] 它决定了一款探测器能够探测材料内部密度微小变化的能力。相比14位探测器(214阶灰度)。

蔡司ZEISS METROTOM工业CT断层扫描测量机一款16位(216阶灰度)探测器能够分辨4倍之多的不同灰度变化。换言之，高位数的探测器能够更好地将图像中的噪声和有用信息加以区分。

　　蔡司ZEISS METROTOM工业CT断层扫描测量机在另一方面，X射线管是一个CT系统中Z为Z为重要，同时也Z为昂贵的部件之一。对于检测小尺寸工件来说，高能量射线管和大尺寸机器既不实用也不经济。

　　也是非常重要的一点，软件对于工业CT系统的性能也起到了非常重要的作用。从图像获取、探测器数据读出、A/D转换、三维重建到数据评价，每一步都包含了复杂的算法和大量的计算。好的软件能够使系统各个部件很好地协同工作，并发挥出系统的性能。

工业CT的硬件决定了这个系统理论上的性能极限，而软件则决定了系统达到的实际性能。由于工业CT系统越来越多地用于几何尺寸与形位公差测量，测量软件的选择也成为了一个关键因素。

蔡司ZEISS METROTOM工业CT断层扫描测量机对于几何尺寸与形位公差测量，其要求不同于其它检测，只有经过专业机构认证的测量软件才能保证可靠的测量结果。