工业ct 蔡司电子断层扫描METROTOM测量ct

蔡司电子断层扫描METROTOM测量蔡司ct测量机可以精确地测出零件表面的点在空间里三个坐标位置的数值，经处理拟合形成测量元素，如圆、球、圆柱、圆锥、曲面等，计算得出其形状、位置公差及其他几何量数据。

蔡司电子断层扫描METROTOM测量但是要知道，蔡司ct测量机这个过程当中不免会出现很多复杂的问题，比如传统上倒扣等复杂或微细三维结构难以直接量测；

蔡司电子断层扫描METROTOM测量全尺寸测量耗时数天乃至数周；剖切、测量力及装夹所导致的样品微变形量测失准；夹具检具成本的大幅攀升……

蔡司电子断层扫描METROTOM测量该设备是配备了CT传感器的坐标蔡司ct测量机，采用高精度坐标测量机核心运动及测量部件，将X射线装置融合于坐标测量系统中，除常规工业CT的无损分析功能，增加了可追溯的几何量计量能力。

蔡司电子断层扫描METROTOM测量测量系统的长度测量精度、探测精度、空间分辨率及相关软件评定算法应符合相应产品几何技术规范(GPS)国际或国家标准。

蔡司电子断层扫描METROTOM测量但是你有所不知的是，现在CT技术的发展已经不再于YL领域。在工业上，越来越多的零部件需要对其内部进行精确的分析，蔡司ct测量机这同样需要用到CT技术——能够一眼看穿“工件”的无损检测技术。

蔡司电子断层扫描METROTOM测量可直接比对zeiss蔡司CT 三维体元数据和CAD 或其它CT 三维体元数据，较之常规方法效率更高，并可以颜色标识来显示分析结果，可对整体对象或用户指定的“感兴趣区域”进行分析，数模对比可直接在zeiss蔡司CT 三维体元数据上进行。

蔡司电子断层扫描METROTOM测量无需将三维数据间接转换成点云或STL 数据，从而避免了增加间接测量的不确定性及有效信息的丢失。