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X-Strata920镀层厚度的测量可分为标准曲线法和FP法(基本参数法)2种。标准曲线法是测量已知厚度或组成

的标准样品，根据荧光X射线的能量和强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此

标准曲线来测量示知样品，以得到镀层厚度或组成比率。

FP法即是Fundamental Parameter Method的简称。即基本参数法。

1）标准曲线法：如下图所示，经X射线照射后，镀层和底材都会各自产生荧光X射线，我们必需

对这2种荧光X射线能够辨别，方能进行镀层厚度的测量。也就说，镀层和底材所含有的元素必需是不

完全相同的，这是测量镀层厚度的先决条件。

X-Strata920镀层测厚仪市场火爆的原因在哪？镀层厚度测量时，可采用两种不同方法。一种是注重镀层中的元素所产生的荧光X射线强度，称

为激发法。另一种是注重底材中的元素所产生的荧光X射线强度，称为吸收法。这两种方法的应用必

需根据镀层和底材的不同组合来区分使用。

镀层厚度测量时，测量已知厚度的标准样品而得到其厚度及产生的荧光X射线强度之间的关系，

并做出标准曲线。然后再测量未知样品的荧光X射线强度，得到镀层厚度。但是需注意的是，荧光X射

线法是从得到的荧光X射线的强度来求得单位面积的元素附着量，再除以元素的密度来得出其厚度。

所以，对于含有杂质或多孔质蒸镀层等与纯物质不同密度的样品，需要进行修正。

2）FP法 - 基本参数方法

采用FP法，只需要比标准曲线法更少的标准样品，就能简单迅速地得到测量的结果。如果样品

均匀，所使用分析线的强度就可用样品的成分和基本参数的函数来表示。换句话说，从任意组成的样

品所产生的分析线强度，都可以从这基本参数来计算出，所以我们称这种方法为基本参数法。