THICK800A 天瑞铜上镀锡测厚仪器

天瑞铜上镀锡测厚仪器

镀层厚度测试方法一般有以下几种方法：

1、光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005

3、库仑法，此法一般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005

质量保证措施

 1. 管理能力: 本司通过了ISO9001质量体系认证，公司各方面的管理都非常规范。

2. 技术开发能力：本司有独立的研发部门，专门负责产品开发。现有技术开发人员260名，其中高级职称的有3人，技术研发力量非常雄厚。

3.工艺技术能力：制造部配有5名***工艺工程师，有专门的产品生产车间，从工艺及工装上能完全保证产品加工质量。

4.品质控制系统：从原材料入库、各工序加工直到成品包装，每道关键环节均有检测把关，确保每台产品都是在检验合格后才能打包入库。

 天瑞仪器公司员工拥有博士5人、硕士27人、本科283人、大专240人，获高级职称的有5人，强大的技术力量和管理能力能保证产品的质量。

天瑞铜上镀锡测厚仪器

Thick800AX-RAY铜上镀锡测厚仪是天瑞仪器销量的镀层测厚仪；仪器采用上照式结构，测试精确，软件界面简洁，测试样品用时40S，售后服务可靠及时。天瑞仪器Thick800A镀锡测厚仪主要用于检测金属电镀层厚度（如镀金、镀银、镀镍、镀锌、镀锡、镀铜、镀钯……）；在企业品质检测、来料管控方面，得到广泛的应用。

厂家优势

 天瑞仪器是***的镀锡测厚仪生产厂家，价格是天瑞仪器的优势，由于是直接接触用户，减少了代理商，渠道商等很多环节，同时仪器的出货量有保障，仪器可以做到批量生产，标准化生产流程保障了仪器的质量。天瑞仪器作为国内分析仪器上市企业，在大的城市和工业比较集中地区都设有售后服务网点，为企业节省了采购和应用成本，提高产品竞争力。

测量标准

1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

      金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法

    2.美国标准A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

部分产品

  X荧光电镀层测厚仪，银层测厚仪，镀层膜厚测试仪，铜上镀镍金测厚仪，X荧光金属膜厚测厚仪，x荧光金属测厚仪，国产电镀层测厚仪，电镀层测厚仪，x射线荧光镀层测厚仪，镀镍无损电镀测厚仪，镍层测厚仪，镀金层X射线无损测厚仪，金属镀层ROHS检测仪，x荧光镀层测厚仪价格，镀银层无损测厚仪，x荧光镀层测厚仪，金属镀层测厚仪，金层测厚仪，无损金属镀层测厚仪,镀金膜厚仪,PCB表面镀层测厚仪,金属镀层分析仪，镀银厚度测试仪，膜厚测试仪x-ray ，金属镀层膜厚仪，X射线荧光多镀层厚度测量仪，铜镀银X射线无损测厚仪，镀层分析仪.x光镀层测厚仪，X射线镀层测厚仪价格，天瑞镀层测厚仪，锡层测厚仪，X荧光金属膜厚测厚仪，XRF镀层测厚仪，镀层分析仪，PCB线路板镀层测厚