IM3523 HIOKI日置LCR测试仪 IM3523
LCR测试仪 IM3523应用于生产线和自动化测试领域的理想选择
● 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。
● 内置比较器和BIN功能
● 2ms的快速测试时间
京海兴乐科技(北京)有限公司提供仪器维修,产品计量,技术培训,产品配件,仪器技术支持。品Pai:R&S,固纬,鼎阳,安柏,同惠,长盛,扬子,长创,是德,泰克,法国CA,日置,克列茨。产品和服务质量好,性价比高,为您节省采购成本!
本产品不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接:交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637,不需要硬件控制器。
LCR测试仪IM3523测量方法:连续测量不同条件
在电容的测量条件中希望以120Hz测量C-D。希望以100kHz测量ESR。这时,使用1台告诉连续测量不同条件。
LCR测试仪IM3523测量方法:顺畅的进行生产线的设置更改的面板读取功能
为了使用1台LCR测试仪测量多种产品,要求GX率的更改设置。
IM3523的面板保存功能更,Z多保存60组测量条件,还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外,可以使用外部控制端口控制面板编号的读取,因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。
可靠的产线检查:接触检查功能
检查4端子测量时样品间的接触不良。
测量LPOT〜LCUR间和HPOT〜HCUR间的接触电阻,如果在所设置的阈值以上时则显示错误。
精度计算软件
仅需输入数值即可轻松计算精度。
LCR测试仪精度计算软件请点击
基本参数
测量模式 | LCR,连续测试 |
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测量参数 | Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q |
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测量量程 | 100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义) |
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可显示量程 | Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [单位]* ~9.99999G [单位])(*为分辩率时的显示位数) 只有 Z和Y显示真有效值 θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.00000~9.99999) Q: ± (0.00~99999.9), Δ%: ± (0.0000%~999.999%) |
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基本精度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° |
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测量频率 | 40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz) |
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测量信号电平 | 正常模式 V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms CC模式: 10μA~50mArms,10μArms |
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输出阻抗 | 正常模式:100Ω |
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显示 | 单色LCD |
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测量时间 | 2ms(1kHz,FAST,代表值) |
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功能 | 比较器,分类测量(BIN功能),面板读取/保存、存储功能 |
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接口 | EXT I/O(处理器),USB通信(高速) 选件:RS-232C,GP-IB,LAN任选一 |
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电源 | 100~240V AC,50/60Hz,50VA |
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尺寸及重量 | 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg |
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附件 | 电源线×1,使用说明书×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1 |
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探头和测试治具
- 4端子探头L2000
DC~8MHz,1m长
- 4端子开尔文夹9140-10
DC~200kH,50 Ω,1 m长
- 镊形探头L2001
线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电极间隔:0.3~6mm(IM9901:JIS尺寸1608~5750)(IM9902:JIS尺寸0603~5750)
- 测试治具9261-10
线长1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可测端口直径:0.3~1.5mm
- 测试治具9262
DC~8 MHz, 直接连接型
- SMD测试治具9263
直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm
- SMD测试治具9677
用于侧面有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm
- SMD测试治具9699
用于底部有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下
PC通讯
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