品牌 其他品牌 产地类别 国产 应用领域 电子/电气/通讯/半导体
台湾Chroma Model 7935 晶圆检测系统
Chroma 7935晶圆检测机为切割后自动化晶粒检测机,使用先进的打光技术,可以清楚的辨识晶粒的外观瑕疵。
结合不同的光源角度、亮度及取像模式,使得 7935可以适用于LED、雷射二极体及影像感测器等产业。 由于使用高速相机以及自行开发之检测演算法,7935可以针对特定瑕疵项目在2 分钟内检测完2"晶圆,换算为单颗处理时间为15 msec。
7935同时也提供了自动 对焦与翘曲补偿功能,以克服晶圆薄膜的翘曲与载盘的水平问题。
7935可配置不 同倍率之物镜,使用者可依晶粒或瑕疵尺寸选择适当的检测倍率。
系统搭配的Z 小解析度为0.35um,一般来说,可以检测1um左右的瑕疵尺寸。
台湾Chroma Model 7935 晶圆检测系统主要产品特点
1、可检测8" 晶圆 (检测区域达10" 范围 ) 2、可因应不同产业的晶粒更换或新增检测项目 3、上片后晶圆对位机制 4、自动寻边功能可适用于不同形状之晶圆 5、瑕疵规格编辑器可让使用者自行编辑检测规格 6、影像辨识成功率高达 98% 7、可结合上游测试机晶粒资料,合并后上传至下一道制程设备
台湾Chroma Model 7935 晶圆检测系统 主要技术参数
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