ITO薄膜是一种n型半导体材料,具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器(LCD)、等离子显示器(PDP)、电致发光显示器(EL/OLED)、触摸屏(TouchPanel)、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极Z常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜,在透明导电薄膜方面得到普遍的应用,具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制,所以对ITO薄膜厚度的高精度测量,是企业必须重视的检测项目之一。
济南新准生产的CHY-C2A测厚仪适用于ITO薄膜厚度测量采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性,测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差,系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定,实时显示测量结果的值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断。
ITO薄膜厚度测量仪 全自动膜厚仪台式测厚仪 技术指标
测试范围 0~2 mm(常规) 0~6 mm;12 mm(可选)
分辨率 0.1 μm
测量速度 10 次/min (可调)
测试压力 17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)
接触面积 50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
进样步距 0~1000 mm
进样速度 0.1~99.9 mm/s
电源 AC 220V 50Hz
外形尺寸 461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)
净重 32 kg
ITO薄膜厚度测量仪 全自动膜厚仪台式测厚仪 产品配置:主机、标准量块一件、专业软件、通信电缆、测量头