SJ217 高精度数显高度计/高度规0.01μm

SJ217高精度数显高度计、高度规（量程50mm，精度0.2μm，Z小分辨率0.01μm）

一、产品简介：

SJ217高度计Z小Z小可读取数值为0.01um，可测量长度为50mm，重复性优于0.1um。在20℃时精度在±0.2um之内，SJ101为触控操作，内有校准系统和数据存储计算功能。配专用指示表检定软件。
二、产品用途：

本仪器采用进口高精度光栅作为测量基准，遵循阿贝原则，按照机械稳定性和热稳定性Z好的原则设计而成。

本机广泛适用于多种应用，其应用包括精密工件检测、多点检测、测量设备检测和位置测量等众多领域。

高精度数显高度计/高度规0.01μm 特点：

（1）高精度：进口光栅；
（2）：经过10万次重复性实验；
（3）检测速度快，快速检测不跳数；
（4）校准方便；
（5）采用密珠导轨的测量杆能够承受很高的径向力且运动摩擦力极小；
（6）应用广泛，自动检测设备、手动测量或定位设备——无论是长度、间距、高度、厚度或直线位移都可以快速、准确和可靠的测量。

高精度数显高度计/高度规0.01μm 技术规格：