日本日置 1.3GHz阻抗分析仪 IM7585-01/02
高速、高稳定性测量，提高生产量！测量时间：Z快0.5ms，测量值偏差0.07%
● 测量频率：1MHz~1.3GHz
● 测量时间：Z快0.5ms（模拟测量时间）
● 测量值偏差：0.07%（测量频率1GHz时的代表值）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
注意：
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。
阻抗分析仪IM7580s：等效电路分析功能
能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列：使用SMD治具IM9201进行LCR测量
IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。
阻抗分析仪IM7580系列：区域判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围，并以IN/NG来显示判定结果。
日本日置 1.3GHz阻抗分析仪 IM7585-01/02
基本参数（精度保证时间1年，调整后精度保证时间1年）
| 测量模式 | LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量 |
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| 测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
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| 精度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
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| 显示范围 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
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| 基本精度 | Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
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| 测量频率 | 1 MHz~1.3 GHz (设置分辨率100kHz) |
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| 测量信号电平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm
电压 (V)模式: 4 mV~502 mVrms
电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02 mArms |
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| 输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
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| 显示 | 彩色TFT8.4英寸、触屏 |
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| 测量时间 | Z快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值） |
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| 功能 | 接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
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| 接口 | EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN
RS-232C (选件), GP-IB (选件) |
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| 电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
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| 体积和重量 | 主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg
测试头: 90W × 64H × 24D mm, 300 g |
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| 附件 | 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1 |
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