x射线衍射仪SDD硅漂移探测器

线性探测器
　　正比探测器、闪烁探测器
　　使用时需要配置单色器，有效去掉Kβ线。
　　线性计数：≥5×10⁵CPS
　　能谱分辨率：正比≤25%、闪烁≤50%。

x射线衍射仪SDD硅漂移探测器使用时不需要配置单色器，线性计数：≥1.5×10⁵CPS、能谱分辨率高≤200eV，较线性探测器，样品测量速度提高4倍以上，可实现高分辨率X射线衍射分析。

x射线衍射仪SDD硅漂移探测器由256个探测器组成的一维半导体陈列探测器，相比传统的闪烁或正比探测器可以提高衍射强度120倍以上，在较短时间内，获取高灵敏度、高分辨率完整的衍射谱图，并且还有非常好的去荧光能力，即使是测量强荧光的样品，一维半导体陈列探测器提供的数据也展示出非常好的信噪比。
线性计数：≥9×10⁷CPS，能谱分辨率：≤25%；有高计数模式及去除荧光背景两种工作模式。