nanolane Sarfus HR Stations 偏光显微镜是免标记、纳米级实时样品表征的分析仪器,基于独特的(SEEC)表面对比增强椭圆偏振显微技术。 Sarfus HR stations可追踪表面的变化,提供高横向分辨率的实时图像和厚度测量。这将为研究分子相互作用,层次与形态变化,生物膜组装等表面现象提供更多的信息。仪器简单易用,只需几秒就可完成样品表征,并为特定环境下样品的分析提供多种组件。
nanolane Sarfus HR Stations 偏光显微镜是一个完整的一站式仪器,包括仪器,软件与电脑。每一个仪器组
件都经过严格挑选,确保提的图像质量和的纳米级测量精度。
软件:Sarfus HR stations提供易于操作和功能强大的软件Sarfusoft 和 Mountains Map.
仪器功能:
实时观测薄膜/分辨率达纳米级
纳米薄膜和纳米图案形貌分析
实时研究分子的吸附和解吸
适时研究(生物)薄膜的组装和降解
实时观测纳米物体的分散
实时观测纳米物体/生物层的相互作用
Graphene & monosheet石墨烯&纳米片表征
表征溶胀/热响应的效应